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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43371. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43371
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43372. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43372
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43373. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43373
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43374. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43374
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43375. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43375
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43376. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43376
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43377. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43377
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43378. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43378
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43379. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, ED., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43379
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43380. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 50K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43380
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43381. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43381
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43382. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43382
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43383. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 100K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43383
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43384. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43384
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43385. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43385
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43386. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 200K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43386
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43387. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, 330K., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43387
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)330K.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43388. SUS, 　　J129, RTNS-II, 290℃, WW, ED., [1990年3月15日.]

 アイテム
資料番号: L-43388
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)　　J129. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43590. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 50K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43590
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「'89. 8. 28」.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43591. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43591
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43592. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43592
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43593. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43593
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43594. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43594
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43595. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43595
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43596. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, ED., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43596
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43597. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43597
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43598. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43598
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43599. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43599
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43600. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43600
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43601. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43601
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43602. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, ED., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43602
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43603. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43603
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.

(備考)α　C. 日付元記載「1989. 8. 28.」.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43604. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43604
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.

(備考)α　D.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43605. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43605
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43606. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43606
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　A.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43607. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43607
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　B.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43608. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43608
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43609. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43609
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43610. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43610
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43611. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43611
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43612. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43612
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　B.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43613. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43613
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43614. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43614
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　C.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43615. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43615
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　D.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43616. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43616
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43617. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43617
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43618. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43618
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　A　　ピンボケ.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43619. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43619
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　A.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43620. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43620
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43621. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43621
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α　C.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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