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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43622. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43622
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α　D.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43623. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43623
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43624. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43624
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　E.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43625. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43625
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　E.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43626. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43626
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43627. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43627
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43628. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43628
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43629. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43629
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43630. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43630
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43631. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43631
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43632. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43632
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)γ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43633. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43633
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43634. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43634
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43635. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43635
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43636. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43636
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43637. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43637
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43638. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43638
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43639. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43639
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43640. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43640
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43641. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43641
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43642. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43642
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43643. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43643
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43644. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43644
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43645. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43645
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43646. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43646
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43647. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43647
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43648. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43648
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43649. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43649
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43650. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43650
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　C.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43651. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43651
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43652. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43652
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43653. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43653
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43654. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43654
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43655. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43655
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43656. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43656
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43657. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43657
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43658. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43658
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43659. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43659
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43660. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43660
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43661. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43661
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

(備考)α　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43662. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43662
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　D　　F＝0.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43663. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43663
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　D F:over M-F 1step.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43664. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43664
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　D F:under M-F 1step.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43665. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43665
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43666. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43666
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　E .

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43667. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43667
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　E.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43668. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43668
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　D　　F＝0.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43669. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43669
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　D F:over 1step.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43670. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43670
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　D F:under 1step.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43671. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43671
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　D 前出とG逆.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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