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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43672. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43672
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43673. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43673
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43674. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43674
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43675. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43675
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　D.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43676. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43676
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　E.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43677. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43677
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43678. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43678
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　E.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43679. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43679
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43680. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43680
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　E　　上と対.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43681. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43681
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43682. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43682
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)twin boundary&loops.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43683. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43683
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下とtwin pair.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43684. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43684
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上とtwin pair.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43685. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43685
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)twin boundary&loops.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43686. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF, 30K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43686
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)odd G.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43687. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43687
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)odd G.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43688. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43688
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)satelliteに注意.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43689. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43689
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)上記EDのarea.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43690. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43690
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)T-controlled e- loop 入り. 日付元記載「1989. 8. 29」.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43691. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43691
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)e- Int. loops Deform 200反射(90-94).

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43692. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43692
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43693. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43693
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43694. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43694
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43695. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43695
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)e- loops.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43696. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43696
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)e- loops.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43697. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43697
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43698. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43698
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43699. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43699
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43700. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43700
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43701. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43701
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A α.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43702. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43702
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B α.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43703. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43703
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43704. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43704
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A β.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43705. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43705
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B β.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43706. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43706
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43707. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43707
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B β.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43708. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

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資料番号: L-43708
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A near 110.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43709. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., 1989. 8. 29.

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資料番号: L-43709
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B near 110.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43710. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., 1989. 8. 29.

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資料番号: L-43710
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43711. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43711
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43712. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43712
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43713. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43713
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43714. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 29.

 アイテム
資料番号: L-43714
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43715. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43715
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)large loops.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43716. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43716
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43717. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43717
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)少し視野ずらす.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43718. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43718
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)少し視野ずらす.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43719. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43719
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)200反射（以下判読不能）、高次.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43720. Ni, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43720
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43721. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: L-43721
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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