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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43781. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43781
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C γ.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43782. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43782
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A γ.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43783. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43783
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C γ.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43784. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43784
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43785. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43785
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43786. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43786
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)B α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43787. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43787
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43788. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43788
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43789. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43789
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43790. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43790
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43791. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43791
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43792. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43792
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43793. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43793
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43794. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43794
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)E α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43795. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43795
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43796. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43796
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)D β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43797. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43797
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)E β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43798. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43798
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43799. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43799
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)A β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43800. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43800
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)B β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43801. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43801
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K.

(備考)A β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43802. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43802
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)↓　下とs逆.

(備考)A β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43803. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43803
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)↑　上とs逆.

(備考)A β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43804. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43804
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43805. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43805
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0 下と対.

(備考)T-Uncontrolled，　露光短 sizeを見るため.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43806. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43806
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0　上と対.

(備考)露光長　中をみるため.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43807. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43807
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0 下と対.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43808. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43808
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0　上と対.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43809. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43809
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A 上記05-下記20まで　α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43810. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43810
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43811. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43811
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43812. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43812
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43813. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43813
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)D.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43814. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43814
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)E.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43815. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43815
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)F.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43816. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, DF, 37K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43816
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)G.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43817. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, DF, 37K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43817
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)H.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43818. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43818
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43819. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43819
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)G.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43820. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43820
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)H　　以上05-20まで　α .

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43821. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43821
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0 下と対.

(備考)A 以下21-33まで　β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43822. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43822
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0　上と対.

(備考)A.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43823. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43823
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0 下と対.

(備考)B.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43824. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43824
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0　上と対.

(備考)B.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43825. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43825
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43826. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43826
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)D.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43827. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43827
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)E.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43828. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43828
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)F.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43829. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, DF, 37K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43829
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)G.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43830. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, DF, 37K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43830
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)H.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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