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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41452. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41452
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)ある程度いる.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41453. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41453
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41454. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41454
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41455. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41455
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41456. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41456
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41457. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41457
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41458. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41458
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41459. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41459
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)1°傾ける.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41460. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41460
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)ここまで200.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41461. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41461
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41462. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41462
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41463. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41463
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41464. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41464
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41465. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41465
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41466. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41466
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41467. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41467
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41468. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41468
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41469. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41469
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41470. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41470
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41471. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41471
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41472. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41472
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41473. SUS, 731, RTNS-II, 200°, M, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41473
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)731. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41474. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41474
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41475. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41475
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41476. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41476
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41477. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41477
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41478. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41478
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41479. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41479
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°ずらす.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41480. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41480
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41481. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41481
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)あるかもしれない.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41482. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41482
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41483. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41483
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41484. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41484
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41485. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41485
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41486. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41486
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41487. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41487
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41488. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41488
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)200.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41489. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41489
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)200.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41490. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41490
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞3.5.

(備考)200.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41491. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41491
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41492. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41492
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41493. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41493
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41494. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41494
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41495. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41495
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41496. SUS, B755, RTNS-II, 200°, WW, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41496
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41497. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41497
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41498. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41498
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41499. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41499
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41500. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41500
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41501. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41501
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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