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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43931. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43931
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)多分研磨の穴.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43932. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43932
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43933. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43933
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)near 110 pole. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43934. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43934
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)near 110 pole. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43935. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43935
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)near 110 pole. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43936. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43936
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43937. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 200K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43937
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43938. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43938
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43939. Ni-2Sn, N254, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: L-43939
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)N254. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43940. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 20K., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43940
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α. 日付元記載「1989. 9. 1」.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43941. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 20K., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43941
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B α.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43942. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 50K., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43942
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C α.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43943. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 50K., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43943
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D α.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43944. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43944
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E α.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43945. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43945
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43946. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 20K., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43946
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A β.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43947. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, BF., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43947
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A β.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43948. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, BF., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43948
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B β.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43949. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 50K., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43949
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)C β.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43950. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, DF., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43950
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D β.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43951. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43951
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E β.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43952. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43952
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43953. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 20K., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43953
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43954. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, BF., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43954
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43955. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 20K., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43955
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43956. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, BF., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43956
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43957. Ni-2Si, N194, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., 1989. 9. 1.

 アイテム
資料番号: L-43957
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)N194. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 9. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43958. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 15K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43958
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43959. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43959
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43960. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43960
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43961. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43961
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43962. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43962
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43963. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43963
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43964. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43964
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43965. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43965
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)E.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43966. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43966
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43967. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43967
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43968. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43968
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　β.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43969. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43969
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43970. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43970
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　β.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43971. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43971
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　β.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43972. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43972
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)E　β.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43973. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43973
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　γ.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43974. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43974
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　γ　(111)rep.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43975. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43975
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　γ.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43976. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 20K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43976
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43977. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43977
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)short exp.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43978. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43978
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)long exp. Ref.あいまい 以下やりなおし.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43979. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43979
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43980. Ni-2Ge, N224, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 20k., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-43980
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)N224. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20k. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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