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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44131. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44131
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44132. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44132
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44133. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44133
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44134. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44134
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44135. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44135
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44136. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44136
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44137. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44137
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44138. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44138
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44139. SUS, B755, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44139
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)B755. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44140. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44140
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44141. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44141
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓　次第に増.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44142. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44142
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44143. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44143
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44144. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44144
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44145. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44145
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44146. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44146
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44147. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44147
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44148. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44148
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44149. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44149
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44150. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44150
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44151. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44151
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44152. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44152
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44153. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44153
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44154. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44154
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44155. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44155
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44156. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44156
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44157. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44157
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44158. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44158
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)右へ5step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44159. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44159
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)左へ5step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44160. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44160
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44161. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44161
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44162. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44162
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44163. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44163
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44164. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44164
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44165. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44165
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44166. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44166
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44167. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44167
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44168. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44168
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44169. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44169
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44170. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44170
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44171. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44171
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)focus ずらし　右へ5 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44172. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44172
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)focus ずらし　左へ5 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44173. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44173
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44174. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44174
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44175. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44175
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44176. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44176
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44177. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44177
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44178. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44178
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44179. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44179
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44180. SUS, J117, RTNS-II, 90℃, WW, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44180
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J117. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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