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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41502. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41502
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41503. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41503
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41504. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41504
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41505. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41505
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41506. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41506
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41507. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41507
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41508. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41508
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41509. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41509
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41510. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41510
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41511. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 270K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41511
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)270K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41512. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41512
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41513. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41513
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41514. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41514
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41515. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41515
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)110.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41516. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41516
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)110.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41517. SUS, B772, RTNS-II, 450°, SSS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41517
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450°. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)110.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41518. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41518
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41519. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41519
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41520. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41520
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41521. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41521
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41522. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41522
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41523. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41523
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41524. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41524
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41525. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41525
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41526. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41526
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41527. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41527
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)いる.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41528. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41528
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41529. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41529
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41530. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41530
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41531. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41531
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41532. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41532
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41533. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41533
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41534. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41534
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41535. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41535
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41536. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 200K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41536
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)」200.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41537. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41537
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41538. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41538
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41539. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41539
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41540. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 200K ？., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41540
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K ？.

(備考)」220.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41541. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41541
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41542. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41542
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41543. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41543
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41544. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41544
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41545. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41545
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41546. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 200K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41546
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)」111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41547. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41547
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41548. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41548
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41549. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41549
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41550. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41550
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41551. SUS, J109, RTNS-II, 90°, M, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41551
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J109. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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