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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41602. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41602
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41603. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41603
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41604. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41604
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41605. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41605
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41606. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41606
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41607. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41607
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41608. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41608
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41609. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41609
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41610. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41610
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41611. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41611
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41612. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW2, ED, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41612
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41613. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41613
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41614. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41614
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41615. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41615
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41616. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41616
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41617. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41617
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41618. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41618
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41619. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41619
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41620. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41620
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41621. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41621
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41622. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41622
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41623. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41623
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41624. SUS, K286, RTNS-II, 350°, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41624
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41625. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41625
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41626. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41626
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41627. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41627
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41628. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41628
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41629. SUS, K286, RTNS-II, 350°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41629
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41630. SUS, K286, RTNS-II, 350°, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41630
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41631. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41631
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41632. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41632
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)下記４枚一組.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41633. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41633
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41634. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41634
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41635. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41635
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41636. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41636
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)下記２枚一組.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41637. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41637
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41638. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41638
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41639. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, ED　ミス., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41639
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED　ミス.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41640. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41640
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41641. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41641
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41642. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41642
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41643. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41643
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41644. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41644
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41645. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41645
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41646. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41646
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41647. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41647
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41648. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41648
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41649. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41649
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41650. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41650
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41651. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41651
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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