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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46659. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46659
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46660. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46660
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46661. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃, DF, 100K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46661
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46662. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃, DF, 100K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46662
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)voidではない.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46663. Cu-0.3Si, JMTR controlled, 350℃, BF, 100K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46663
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)voidではない.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46664. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46664
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)jst.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46665. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46665
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)＋1.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46666. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46666
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)＋2.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46667. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46667
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)＋3.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46668. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46668
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)＋4.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46669. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46669
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)0.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46670. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46670
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46671. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46671
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46672. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46672
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46673. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46673
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46674. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46674
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46675. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46675
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)すぐ隣.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46676. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46676
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46677. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 200K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46677
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)2g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46678. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46678
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)3g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46679. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46679
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)4g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46680. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46680
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)5g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46681. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46681
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)6g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46682. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46682
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)7g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46683. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46683
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46684. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46684
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)8g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46685. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46685
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)9g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46686. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46686
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)10g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46687. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46687
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)11g.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46688. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46688
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46689. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, 330K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46689
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)下と対.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46690. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46690
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)歪.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46691. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, 330K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46691
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)下と対.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46692. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46692
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46693. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, 330K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46693
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46694. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46694
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46695. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46695
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s中～7ｇ.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46696. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

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資料番号: L-46696
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)96～98は組.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46697. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

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資料番号: L-46697
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46698. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46698
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46699. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

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資料番号: L-46699
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s中～7ｇ.

(備考)99～701は組.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46700. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46700
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46701. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46701
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46702. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46702
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)02～04は組.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46703. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46703
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46704. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46704
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46705. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46705
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)05～07は組.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46706. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46706
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46707. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46707
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46708. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46708
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)5g.

(備考)08～10は組.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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