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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41652. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41652
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41653. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41653
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41654. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41654
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41655. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41655
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41656. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41656
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41657. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41657
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41658. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41658
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41659. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41659
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41660. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41660
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41661. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 330K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41661
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)以上すべて同Grain.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41662. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41662
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41663. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41663
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41664. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41664
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41665. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41665
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41666. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41666
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41667. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41667
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41668. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41668
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41669. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41669
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41670. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41670
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 2/1/2 ゴミをのぞくため.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41671. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41671
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41672. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41672
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41673. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41673
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41674. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41674
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41675. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41675
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41676. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41676
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41677. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41677
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41678. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41678
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41679. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41679
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41680. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41680
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41681. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41681
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)以上すべて同Grain.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41682. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41682
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41683. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41683
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41684. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41684
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41685. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41685
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41686. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41686
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41687. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41687
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41688. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41688
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41689. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41689
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中 FC＋4.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41690. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41690
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41691. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41691
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41692. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41692
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41693. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41693
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)|.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41694. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41694
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)|.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41695. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41695
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41696. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41696
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41697. Cu-2Sn 再, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41697
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn 再. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41698. Cu-2Sn 再, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41698
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn 再. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41699. Cu-2Sn 再, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41699
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn 再. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41700. Cu-2Sn 再, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41700
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn 再. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41701. Cu-2Sn 再, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41701
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn 再. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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