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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58548. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58548
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58549. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58549
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58550. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58550
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58551. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58551
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58552. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58552
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58553. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58553
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)110.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58554. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58554
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58555. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58555
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58556. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58556
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58557. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58557
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58558. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58558
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58559. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58559
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58560. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58560
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58561. Ni-0.05Si, N173, JMTR controlled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58561
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (試料番号)N173. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58562. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58562
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58563. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58563
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58564. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58564
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58565. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58565
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58566. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58566
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58567. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58567
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58568. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58568
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58569. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58569
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58570. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58570
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58571. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58571
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58572. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58572
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58573. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58573
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58574. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, 8K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58574
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)8K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58575. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, 8K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58575
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)8K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)D.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58576. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58576
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)D.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58577. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58577
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)E.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58578. Ni-0.05Ge, N163, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58578
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N163. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)E.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58579. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58579
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58580. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58580
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58581. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58581
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58582. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58582
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58583. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, 80K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58583
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58584. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58584
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58585. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58585
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0（3.5）.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58586. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58586
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58587. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58587
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58588. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58588
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58589. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58589
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58590. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58590
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58591. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58591
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58592. Ni-0.3Ge, N213, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58592
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N213. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58593. Ni-0.3Sn, N243, JMTR controlled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58593
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N243. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58594. Ni-0.3Sn, N243, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58594
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)N243. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58595. Ni-0.3Sn, N243, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58595
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)N243. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58596. Ni-0.3Sn, N243, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58596
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)N243. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58597. Ni-0.3Sn, N243, JMTR controlled, 400℃, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58597
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)N243. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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