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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41752. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41752
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41753. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41753
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α B.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41754. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41754
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41755. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41755
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)β B.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41756. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, ED., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41756
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41757. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, ミス., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41757
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ミス.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41758. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41758
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41759. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 20K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41759
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β B.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41760. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41760
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41761. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, DF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41761
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41762. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 290℃, BF, 10K., 1989. 6. 9.

 アイテム
資料番号: L-41762
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)β A.

日付: 1989. 6. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41763. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41763
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41764. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41764
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41765. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41765
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α B.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41766. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41766
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41767. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41767
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41768. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41768
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α B.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41769. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41769
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41770. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41770
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β B.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41771. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41771
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41772. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41772
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41773. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41773
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β B.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41774. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41774
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41775. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41775
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β B.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41776. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41776
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41777. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, BF, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41777
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41778. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41778
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)小さいのはたぶんSFT Focusで動かず.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41779. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41779
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41780. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41780
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41781. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41781
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0(3).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41782. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41782
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41783. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41783
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41784. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41784
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41785. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41785
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41786. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

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資料番号: L-41786
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41787. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

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資料番号: L-41787
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

(備考)1°傾け　Yステレオ.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41788. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41788
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

(備考)1°傾け　Yステレオ.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41789. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41789
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41790. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41790
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41791. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

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資料番号: L-41791
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41792. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41792
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0(3).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41793. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41793
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41794. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41794
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0(3.5).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41795. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41795
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41796. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41796
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)fine大左へ(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41797. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41797
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41798. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41798
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0(4).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41799. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41799
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)fine大左へ(2).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41800. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41800
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41801. SUS316, A071, JMTR controlled, 290℃., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41801
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号) A071. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0(3).

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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