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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59852. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59852
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59853. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59853
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59854. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59854
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59855. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59855
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59856. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59856
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59857. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59857
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59858. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59858
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59859. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59859
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59860. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59860
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59861. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59861
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59862. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59862
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)他の視野　同じgrain.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59863. Ni, JMTR controlled, 400℃, 10K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59863
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)10K.

(備考)同じgrain.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59864. Ni, JMTR controlled, 400℃, 10K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59864
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)10K.

(備考)同じgrain.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59865. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59865
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)同じgrain.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59866. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59866
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

(備考)同じgrain.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59867. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59867
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

(備考)同じgrain.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59868. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59868
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

(備考)他のgrain.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59869. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59869
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

(備考)他のgrain.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59870. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59870
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

(備考)他のgrain.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59871. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59871
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

(備考)他のgrain　他の視野.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59872. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59872
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

(備考)他のgrain　他の視野.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59873. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59873
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

(備考)他のgrain　他の視野　A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59874. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59874
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)他のgrain　他の視野　A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59875. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59875
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

(備考)他のgrain　他の視野　A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59876. Ni, JMTR controlled, 400℃, 10K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59876
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)10K.

(備考)他のgrain　他の視野　A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59877. Ni, JMTR controlled, 400℃, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59877
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)20K.

(備考)他のgrain　他の視野　A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59878. Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59878
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)他のgrain　他の視野　A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59879. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59879
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

(備考)他の視野　B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59880. Ni, JMTR controlled, 400℃, LM., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59880
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)LM.

(備考)他の視野　B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59881. Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59881
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)他の視野　B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59882. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59882
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

(備考)他の視野　A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59883. Ni, JMTR controlled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59883
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

(備考)他の視野　B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59884. Ni-0.05Ge, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 70K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59884
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)70K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59885. Ni-0.05Ge, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 70K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59885
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)70K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59886. Ni-0.05Ge, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59886
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59887. Ni-0.05Ge, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59887
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59888. Ni-0.05Ge, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59888
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59889. Ni-0.05Ge, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 300K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59889
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)300K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59890. Ni-0.05Ge, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 100K., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-59890
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59891. Ni-0.05Ge, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 100K., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-59891
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部が見えるように傾ける.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59892. Ni-0.05Ge, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-59892
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59893. Ni-0.05Ge, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 200K., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-59893
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)loop　別の視野.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59894. Ni-0.05Ge, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 200K., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-59894
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59895. Ni-0.05Ge, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 100K., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-59895
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59896. Ni, N104, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-59896
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59897. Ni, N104, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-59897
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59898. Ni, N104, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-59898
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59899. Ni, N104, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59899
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59900. Ni, N104, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59900
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59901. Ni, N104, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59901
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N104. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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