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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60002. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60002
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60003. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60003
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60004. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60004
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60005. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60005
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60006. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 80K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60006
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)80K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60007. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60007
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60008. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60008
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60009. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60009
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60010. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60010
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)2-20. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60011. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60011
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)2-20. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60012. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60012
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)2-20.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60013. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, BF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60013
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60014. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, BF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60014
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60015. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60015
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61021. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61021
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

(備考)loop　組み写真用低倍写真.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61022. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61022
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61023. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61023
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61024. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61024
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61025. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61025
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61026. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61026
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61027. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61027
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61028. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61028
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61029. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61029
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61030. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61030
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61031. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61031
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61032. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61032
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61033. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61033
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200.

(備考)A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61034. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61034
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200.

(備考)B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61035. 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61035
範囲と内容

(条件・倍率等)11K.

(備考) 見開きに記載なし, 脱漏ヵ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61036. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61036
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61037. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61037
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61038. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61038
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61039. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61039
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61040. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61040
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61041. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61041
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61042. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61042
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61043. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61043
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61044. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61044
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)ボツ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61045. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61045
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61046. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61046
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61047. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61047
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61048. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61048
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＜＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61049. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61049
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61050. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61050
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　＋14赤6-9（40）.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61051. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61051
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61052. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61052
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61053. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61053
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61054. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61054
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

(備考)　＋8.5赤15-18（120）.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61055. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61055
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61056. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61056
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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