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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5246 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61057. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61057
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61058. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61058
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61059. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61059
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61060. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61060
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61061. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61061
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61062. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61062
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61063. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61063
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61064. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61064
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61065. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61065
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61066. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61066
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61067. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61067
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61068. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61068
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61069. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61069
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61070. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61070
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61071. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61071
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)析出スポットチェック.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61072. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61072
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61073. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61073
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61074. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61074
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61075. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61075
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)220.

(備考)a.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61076. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61076
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

(備考)a.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61077. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61077
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)220.

(備考)b.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61078. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61078
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

(備考)b.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61079. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61079
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)440.

(備考)A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61080. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61080
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)440.

(備考)A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61081. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61081
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111.

(備考)c.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61082. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61082
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

(備考)c.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61083. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61083
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111.

(備考)d.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61084. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61084
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

(備考)d.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61085. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61085
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)222.

(備考)D.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61086. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61086
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)222.

(備考)D.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61087. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61087
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111.

(備考)e.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61088. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61088
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

(備考)e.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61089. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61089
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ｆ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61090. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61090
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ｆ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61091. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61091
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)ｆ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61092. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-61092
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)200.

(備考)ｆ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61093. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61093
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)220.

(備考)ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61094. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61094
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

(備考)ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61095. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DE., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-61095
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DE. (反射ベクトルg)220.

(備考)ｈ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61096. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61096
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

(備考)ｈ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61097. Fe, JMTR unontolled　, 300℃, 11, DF, 50K., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-61097
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR unontolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61098. Fe, JMTR unontolled　, 300℃, 11, DF, 50K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61098
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR unontolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61099. Fe, JMTR unontolled　, 300℃, 11, DF, 50K., [1989年10月14日.]

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資料番号: O-61099
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR unontolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61100. Fe, JMTR unontolled　, 300℃, 11, DF, 50K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61100
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR unontolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61101. Fe, JMTR unontolled　, 300℃, 11, DF, 50K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61101
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR unontolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（4）.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61102. Fe, JMTR unontolled　, 300℃, 11, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61102
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR unontolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61103. Fe, JMTR unontolled　, 300℃, 11, DF, 50K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61103
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR unontolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61104. Fe, JMTR unontolled　, 300℃, 11, DF, 50K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61104
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR unontolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61105. Fe, JMTR unontolled　, 300℃, 11., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61105
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR unontolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61106. Fe, JMTR unontolled　, 300℃, 11, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61106
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)JMTR unontolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K.

(備考)ボイドわずかにいる　ボイドコントラスト.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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