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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81301. Si, 200keV e-., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81301
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-.

(備考)エッジ部. 日付元記載「4/7」.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81302. Si, 200keV e-., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81302
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-.

(備考)エッジ部.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81303. Si, 200keV e-., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81303
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-.

(備考)エッジ部.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81304. Si, 200keV e-., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81304
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-.

(備考)エッジ部.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81305. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81305
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81306. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81306
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81307. Si, 200keV e-, DF, 30K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81307
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81308. Si, 200keV e-, ED, 55cm., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81308
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81309. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81309
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81310. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81310
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81311. Si, 200keV e-, DF, 30K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81311
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81312. Si, 200keV e-, ED, 55cm., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81312
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81313. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81313
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81314. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81314
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)この位置10:22 start ｺﾝﾃﾞﾝｻｰしぼりはずす.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81315. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81315
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)15分後.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81316. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81316
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)20分後.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81317. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81317
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)21分.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81318. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81318
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)30分.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81319. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81319
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)30分　ｺﾝﾃﾞﾝｻｰ絞り入れる　照射end.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81320. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81320
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)　.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81321. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81321
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81322. Si, 200keV e-, DF, 30K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81322
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81323. Si, 200keV e-, ED, 55cm., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81323
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81324. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81324
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81325. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81325
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81326. Si, 200keV e-, DF, 30K., [1992年]4/7.

 アイテム
資料番号: L-81326
範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81328. Ni, DF, 100K., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81328
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①　下と対. 日付元記載「4/20」,  「4/22」.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81329. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81329
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①　上と対.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81330. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81330
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)　.

(備考)①　一つ　もう一回　.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81331. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81331
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①　二つ　もう一回.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81332. Ni, ED., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81332
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)①　spotなし.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81333. Ni, DF, 100K., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81333
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81334. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81334
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)　.

(備考)②.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81335. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81335
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

(備考)②.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81336. Ni, ED., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81336
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)②.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81337. Ni, DF, 100K., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81337
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81338. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81338
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs).

(備考)③.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81339. Ni, ED., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81339
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)③.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81340. Ni., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81340
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)edge.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81341. Ni., [1992年]4/20, 4/22., [1992-04-20/1992-04-22.]

 アイテム
資料番号: L-81341
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)edge.

日付: [1992年]4/20, 4/22.; [1992-04-20/1992-04-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81342. SUS, BF, 15K., [1992年]4/23.

 アイテム
資料番号: L-81342
範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「4/23」.

日付: [1992年]4/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81343. SUS, ED, 55cm., [1992年]4/23.

 アイテム
資料番号: L-81343
範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年]4/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81344. SUS, BF, 50K., [1992年]4/23.

 アイテム
資料番号: L-81344
範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]4/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81345. SUS, BF, 100K., [1992年]4/23.

 アイテム
資料番号: L-81345
範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]4/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81346. SUS, DF, 50K., [1992年]4/23.

 アイテム
資料番号: L-81346
範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]4/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81347. SUS, DF, 100K., [1992年]4/23.

 アイテム
資料番号: L-81347
範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]4/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81348. SUS, DF, 50K., [1992年]4/23.

 アイテム
資料番号: L-81348
範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

日付: [1992年]4/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81349. SUS, DF, 100K., [1992年]4/23.

 アイテム
資料番号: L-81349
範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

(備考)」.

日付: [1992年]4/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81350. SUS, BF, 20K., [1992年]4/23.

 アイテム
資料番号: L-81350
範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]4/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81351. SUS, DF, 50K., [1992年]4/23.

 アイテム
資料番号: L-81351
範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α　下と対.

日付: [1992年]4/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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