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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84479. Ni, JMTRcycle-II, C-A3, BF, 31K., 1992. 5. 26.

 アイテム
資料番号: O-84479
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)C-A3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)観察不能領域. 日付元記載「1992. 5. 26」.

日付: 1992. 5. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84480. Ni, JMTRcycle-II, C-A3, BF, 31K., 1992. 5. 26.

 アイテム
資料番号: O-84480
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)C-A3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)観察不能領域.

日付: 1992. 5. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84481. Ni, JMTRcycle-II, C-A3, BF, 31K., 1992. 5. 26.

 アイテム
資料番号: O-84481
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)C-A3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)観察可能領域　微細結晶粒.

日付: 1992. 5. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84482. Ni, JMTRcycle-II, C-A3, ED., 1992. 5. 26.

 アイテム
資料番号: O-84482
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)C-A3. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)観察可能領域　微細結晶粒.

日付: 1992. 5. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84483. Ni, JMTRcycle-II, C-A3, BF, 11K., 1992. 5. 26.

 アイテム
資料番号: O-84483
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)C-A3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)観察可能領域　微細結晶粒.

日付: 1992. 5. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84484. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84484
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

(備考)ABC　grain方向依存あり.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84485. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84485
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

(備考)ABC　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84486. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84486
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

(備考)ABC　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84487. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84487
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　傾き（0,0）の方向.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84488. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84488
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84489. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84489
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84490. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84490
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84491. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84491
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84492. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84492
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84493. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84493
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84494. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84494
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84495. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84495
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84496. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84496
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き（0,0）β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84497. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84497
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84498. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84498
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84499. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84499
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84500. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84500
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　上を撮った傾き.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84501. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84501
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84502. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84502
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　（0,0）の時のdiff.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84503. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84503
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84504. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84504
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84505. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84505
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84506. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, DF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84506
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)有るさ前のgrainも同じ厚さ勾配.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84507. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, BF, 8K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84507
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K. (反射ベクトルg)111.

(備考)α　edge　boundary.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84508. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84508
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)111.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84509. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84509
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)111.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84510. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84510
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84511. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84511
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)200.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84512. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84512
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)200.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84513. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84513
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)200.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84514. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84514
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　＋2赤0-3（180）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84515. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84515
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84516. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84516
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84517. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84517
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84518. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84518
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84519. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84519
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84520. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84520
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84521. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84521
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)厚い所　ボイド.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84522. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84522
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-6赤0-3（100）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84523. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84523
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84524. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84524
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84525. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84525
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)別のgrain　dislocation　grain.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84526. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84526
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84527. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84527
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84528. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84528
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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