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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85069. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85069
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85070. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85070
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85071. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85071
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　-29.0赤3.5（260）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85072. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85072
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85073. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85073
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85074. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85074
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-25.0赤13（40）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85075. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85075
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85076. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85076
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85077. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85077
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-21.5赤12（40）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85078. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85078
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85079. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85079
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85080. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85080
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85081. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85081
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-26.5赤12（40）？.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85082. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85082
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85085. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85085
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋18.2黒13（100）. 日付元記載「7/1」.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85086. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85086
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85087. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85087
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85088. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85088
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85089. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85089
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85090. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85090
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85091. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85091
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋21.0黒6（220９.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85092. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85092
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85093. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85093
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85094. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85094
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85095. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85095
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85096. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF, 50K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85096
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85097. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85097
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　loop数data.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85098. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF, 50K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85098
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85099. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85099
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85100. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85100
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85101. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF, 50K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85101
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　19.3黒13.5（330）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85102. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85102
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85103. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85103
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-3.4黒20（80）. 日付元記載「7/2」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85104. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85104
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85105. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85105
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85106. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85106
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85107. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85107
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85108. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85108
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)　-2.5黒12（180）.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85109. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85109
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85110. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85110
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85111. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85111
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)別のgrain　木塚.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85112. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85112
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85113. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, DF, 50K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85113
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85114. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85114
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)スポット入れ忘れ(100)poleポール近く　小笠原.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85115. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85115
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85116. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85116
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85117. Ni-0.3Sn, A112, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85117
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (試料番号)A112. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85118. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85118
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋21.5赤18.0（0）. 日付元記載「7/2」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85119. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85119
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85120. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85120
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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