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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85121. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF, 31K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85121
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85122. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85122
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)22.0sks18.0（0）.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85123. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85123
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85124. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85124
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85125. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85125
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)just　2 1/2D.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85126. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85126
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)over　two　steps.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85127. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85127
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)under　two　steps.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85128. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85128
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋13.5赤24（180）.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85129. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85129
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85130. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85130
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85131. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85131
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)β. 実験者元記載「M.K.（以上を意味する」）」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85132. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85132
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85133. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85133
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85134. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85134
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85135. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85135
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード.

(備考)カメラ室トラブル.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85136. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85136
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85137. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85137
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85138. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85138
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85139. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF, 42K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85139
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)実験者元記載「Y.K.（以上を意味する」）」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85140. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85140
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)？.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85141. Ni-0.3Ge, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85141
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)？.

(備考)実験者元記載「小笠原（以上を意味する」）」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85142. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85142
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-2.5赤0.5（200）. 日付元記載「7/2」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85143. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85143
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85144. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85144
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85145. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85145
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α　.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85146. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85146
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-5.5黒8（100）.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85147. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85147
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85148. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85148
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β. 実験者元記載「M.K.（以上を意味する」）」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85149. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85149
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85150. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85150
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85151. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85151
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85152. Ni-0.3Sn, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85152
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)実験者元記載「kiy.（以上を意味する」）」.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85153. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85153
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋36黒12（00）①. 日付元記載「7/3」.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85154. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85154
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85155. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85155
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード.

(備考)α①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85156. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85156
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85157. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85157
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85158. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85158
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋17　18.2（60）①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85159. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85159
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85160. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85160
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85161. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85161
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85162. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85162
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋18赤6（125）②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85163. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85163
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85164. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85164
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85165. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85165
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85166. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85166
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋9　1（60）②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85167. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85167
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85168. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85168
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85169. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85169
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85170. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85170
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　-22黒24（40）. 日付元記載「7/2」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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