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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84556. Ni-2Cu, JMTRサイクルII-A, BF, 100K., [1992年]12/8.

 アイテム
資料番号: L-84556
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84557. Ni-2Cu, JMTRサイクルII-A, ED., [1992年]12/8.

 アイテム
資料番号: L-84557
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84558. Ni-2Cu, JMTRサイクルII-A, ED., [1992年]12/8.

 アイテム
資料番号: L-84558
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84559. Ni-2Cu, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/8.

 アイテム
資料番号: L-84559
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84560. Ni-2Cu, JMTRサイクルII-A, DF, 50K., [1992年]12/8.

 アイテム
資料番号: L-84560
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84561. Ni-2Cu, JMTRサイクルII-A, DF, 50K., [1992年]12/8.

 アイテム
資料番号: L-84561
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84562. Ni-2Cu, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/8.

 アイテム
資料番号: L-84562
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84563. Ni-2Cu, JMTRサイクルII-A, DF, 50K., [1992年]12/8.

 アイテム
資料番号: L-84563
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84564. Ni-2Cu, JMTRサイクルII-A, DF., [1992年]12/8.

 アイテム
資料番号: L-84564
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1992年]12/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84565. Ni-2Cu, JMTRサイクルII-A, DF., [1992年]12/8.

 アイテム
資料番号: L-84565
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)boundary.

日付: [1992年]12/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84566. Ni-2Si, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/9.

 アイテム
資料番号: L-84566
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「12/9」. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1992年]12/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84567. Ni-2Si, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/9.

 アイテム
資料番号: L-84567
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84568. Ni-2Si, JMTRサイクルII-A, DF., [1992年]12/9.

 アイテム
資料番号: L-84568
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84569. Ni-2Si, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/9.

 アイテム
資料番号: L-84569
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　11.0赤12.0（260）.

日付: [1992年]12/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84570. Ni-2Si, JMTRサイクルII-A, DF., [1992年]12/9.

 アイテム
資料番号: L-84570
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84571. Ni-2Si, JMTRサイクルII-A, ED., [1992年]12/9.

 アイテム
資料番号: L-84571
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84572. Ni-2Si, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/9.

 アイテム
資料番号: L-84572
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　10.0赤2.0（260）.

日付: [1992年]12/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84573. Ni-2Si, JMTRサイクルII-A, DF., [1992年]12/9.

 アイテム
資料番号: L-84573
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84574. Ni-2Si, JMTRサイクルII-A, ED., [1992年]12/9.

 アイテム
資料番号: L-84574
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84575. Ni-2Si, JMTRサイクルII-A, ED., [1992年]12/9.

 アイテム
資料番号: L-84575
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84576. BaSe, BF, 100K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84576
範囲と内容

(試料)BaSe. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)about　50℃　1-α. 日付元記載「1992. 12. 8」. 実験者元記載「西畑, 井関, 桐谷」.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84577. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84577
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)1-α.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84578. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84578
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)2-α.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84579. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84579
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)3-α.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84580. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84580
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)4-α.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84581. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84581
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)？.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84582. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84582
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)1-β？.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84583. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84583
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)2-β.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84584. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84584
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)4-β.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84585. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84585
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)3-β.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84586. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84586
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)2-β.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84587. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84587
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)1-β.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84588. BaSe, ED., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84588
範囲と内容

(試料)BaSe. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84589. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84589
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)100℃　10min　anneal(1.15mV,0.52A)　5.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84590. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84590
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)4.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84591. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84591
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)5.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84592. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84592
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)3.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84593. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84593
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84594. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84594
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84595. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84595
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)150℃　10min　anneal　15：29～(2.30mV,0.608A)　5.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84596. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84596
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)4.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84597. BaSe, 50K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84597
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)3.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84598. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84598
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84599. BaSe, 100K., 1992. 12. 8.

 アイテム
資料番号: L-84599
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: 1992. 12. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84600. BaSe, 50K., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84600
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)200℃　10min　anneal(3.10mV,0.652mA)　5.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84601. BaSe, 50K., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84601
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)4.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84602. BaSe, 50K., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84602
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)3.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84603. BaSe, 100K., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84603
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84604. BaSe, 100K., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84604
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84605. BaSe., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84605
範囲と内容

(試料)BaSe.

(備考)250℃　10min　Anneal　4mV、0.69A　失.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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