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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84707. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84707
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84708. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84708
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84709. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84709
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84710. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84710
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84711. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 30K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84711
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84712. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84712
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　9黒1.5（220）.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84713. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84713
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84714. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84714
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84715. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84715
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84716. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾3, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84716
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾3. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84717. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84717
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　-14赤7（240）.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84718. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84718
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84719. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84719
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84720. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84720
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84721. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84721
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84722. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84722
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84723. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84723
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84724. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84724
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)3本とばし.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84725. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84725
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)3本とばし.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84726. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84726
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84727. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84727
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)非点あり！Boundary近傍　.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84728. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84728
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「12/10」. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84729. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84729
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84730. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84730
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84731. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84731
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84732. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84732
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84733. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84733
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84734. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84734
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84735. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84735
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84736. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84736
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　２１．８黒23（300）.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84737. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84737
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84738. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84738
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84739. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84739
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84740. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84740
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84741. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84741
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　１４．８黒18（120）.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84742. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84742
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84743. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 100K., [1992年]12/10.

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資料番号: L-84743
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84744. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84744
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84745. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A., [1992年]12/10.

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資料番号: L-84745
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A.

(備考)ミス.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84746. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84746
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84747. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, BF, 50K., [1992年]12/11.

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資料番号: L-84747
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　＋4黒3（70）. 日付元記載「12/11」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84748. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84748
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84749. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84749
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84750. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84750
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84751. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, ED., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84751
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84752. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84752
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84753. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84753
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84754. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, BF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84754
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋11黒6（60）.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84755. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84755
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84756. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84756
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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