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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84757. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84757
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84758. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84758
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84759. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, ED., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84759
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84760. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, ED., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84760
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84761. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84761
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84762. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84762
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84763. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84763
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84764. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84764
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84765. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84765
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　-16黒6（120）. 日付元記載「12/11」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84766. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84766
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84767. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84767
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84768. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84768
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84769. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84769
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84772. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84772
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84773. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84773
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84774. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84774
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　-18黒12（120）.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84775. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84775
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84776. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84776
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84777. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84777
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84778. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84778
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「12/11」. 実験者元記載「林」.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84779. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84779
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84780. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84780
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84781. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84781
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84782. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84782
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84783. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84783
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84784. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84784
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84785. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84785
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84786. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84786
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84787. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84787
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84788. Ni, Heイオン照射1MeV, ED., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84788
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84789. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84789
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84790. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84790
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84791. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84791
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84792. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84792
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84793. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84793
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84794. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

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資料番号: L-84794
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84795. Ni, Heイオン照射1MeV, ED., [1992年]12/11.

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資料番号: L-84795
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84796. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

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資料番号: L-84796
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84797. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

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資料番号: L-84797
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84798. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

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資料番号: L-84798
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84799. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

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資料番号: L-84799
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84800. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

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資料番号: L-84800
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84801. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

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資料番号: L-84801
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84802. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84802
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84803. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84803
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84804. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84804
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84805. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84805
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84806. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84806
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84807. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84807
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84808. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84808
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「12/11」. 実験者元記載「林」.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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