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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84859. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84859
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　306（300）.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84860. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84860
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84861. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84861
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84862. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84862
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84863. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84863
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84864. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84864
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84865. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84865
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84866. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84866
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84867. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, ED., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84867
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84868. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 5., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84868
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84869. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 5., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84869
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.

(備考)別.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84870. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 5., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84870
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.

(備考)別.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84871. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 5., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84871
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.

(備考)別.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84872. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 5., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84872
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.

(備考)別.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84873. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84873
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84874. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84874
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84875. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84875
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84876. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84876
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84877. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, ED., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84877
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84878. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84878
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)3rd　obs　Area　22. 日付元記載「12/12」.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84879. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84879
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　22.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84880. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84880
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　22.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84881. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84881
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　23.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84882. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84882
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　23.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84883. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84883
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　23.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84884. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84884
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　23.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84885. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84885
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　23.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84886. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84886
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　24.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84887. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84887
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　25.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84888. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84888
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　25.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84889. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84889
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　25.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84890. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84890
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　26.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84891. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84891
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　26.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84892. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84892
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　26.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84893. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

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資料番号: L-84893
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　27.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84894. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

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資料番号: L-84894
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　27.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84895. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

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資料番号: L-84895
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　28.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84896. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

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資料番号: L-84896
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　28.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84897. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

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資料番号: L-84897
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　28.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84898. V, JMTR88Mクラッド, BF, 50K., [1992年]12/13.

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資料番号: L-84898
範囲と内容

(試料)V. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)加工. 日付元記載「12/13」.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84899. V, JMTR88Mクラッド, BF, 59K., [1992年]12/13.

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資料番号: L-84899
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)59K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84900. V, JMTR88Mクラッド, ED., [1992年]12/13.

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資料番号: L-84900
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84901. V, JMTR88Mクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

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資料番号: L-84901
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84902. V, JMTR88Mクラッド, BF, 150K., [1992年]12/13.

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資料番号: L-84902
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84903. V, JMTR88Mクラッド, BF, 150K., [1992年]12/13.

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資料番号: L-84903
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84904. V, JMTR88Mクラッド, BF, 150K., [1992年]12/13.

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資料番号: L-84904
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84905. V, JMTR88Mクラッド, BF, 150K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84905
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84906. V, JMTR88Mクラッド, BF, 50K., [1992年]12/13.

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資料番号: L-84906
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84907. V, JMTR88Mクラッド, BF, 50K., [1992年]12/13.

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資料番号: L-84907
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84908. V, JMTRimp88M, BF, 50K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84908
範囲と内容

(試料)V. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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