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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84909. V, JMTRimp88M, BF, 50K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84909
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84910. V, JMTRimp88M, BF, 150K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84910
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84911. V, JMTRimp88M, BF, 50K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84911
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84912. V, JMTRimp88M, BF, 50K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84912
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84913. V, JMTRimp88M, BF, 50K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84913
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84914. V, JMTRimp88M, BF, 50K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84914
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84915. V, JMTRクラッド, BF, 30K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84915
範囲と内容

(試料)V. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)焼鈍. 日付元記載「12/13」.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84916. V, JMTRクラッド, BF, 50K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84916
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84917. V, JMTRクラッド, ED., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84917
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84918. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84918
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)　＋2黒5　α.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84919. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84919
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)　＋4黒1　β.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84920. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84920
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)　＋5赤1　γ.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84921. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84921
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84922. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84922
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84923. V, JMTRクラッド, BF, 50K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84923
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84924. V, JMTRクラッド, BF, 150K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84924
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K.

(備考)粒界.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84925. V, JMTRクラッド, ED., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84925
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84926. V, JMTRクラッド, BF, 20K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84926
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84927. V, JMTRクラッド, ED., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84927
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84928. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84928
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84929. V, JMTRクラッド, BF, 73K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84929
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)73K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84930. V, JMTRクラッド, ED., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84930
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84931. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84931
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84932. V, JMTRクラッド, ED., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84932
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84935. V　, JMTRconv, 400℃, 150K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84935
範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)同じところ. 日付元記載「12/13」.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84936. V　, JMTRconv, 400℃, 150K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84936
範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同じところ　ボイド.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84937. V　, JMTRconv, 400℃, 150K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84937
範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84938. V　, JMTRconv, 400℃, 270K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84938
範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)270K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84939. V　, JMTRconv, 400℃, 100K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84939
範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84940. V　, JMTRconv, 400℃, 100K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84940
範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84941. V　, JMTRconv, 400℃, 10K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84941
範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)10K.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84942. V　, JMTRconv, 400℃, 100K., [1992年]12/13.

 アイテム
資料番号: L-84942
範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84943. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

 アイテム
資料番号: L-84943
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　＋22赤0（20）. 日付元記載「12/14」.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84944. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

 アイテム
資料番号: L-84944
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84945. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

 アイテム
資料番号: L-84945
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84946. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/14.

 アイテム
資料番号: L-84946
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84947. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/14.

 アイテム
資料番号: L-84947
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84948. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84948
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84949. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, BF, 50K., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84949
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84950. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, BF, 20K., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84950
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84951. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, ED., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84951
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84952. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84952
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　＋18赤7（120）.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84953. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84953
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84954. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84954
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84955. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84955
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84956. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84956
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84957. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84957
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84958. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84958
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B.

(備考)おくった.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84959., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84959
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84960. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, BF, 20K., [1992年]12/14.

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資料番号: L-84960
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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