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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85162. Cu, Heイオン照射, 0.11E19He/m2, DF, 30K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85162
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85163. Cu, Heイオン照射, 0.11E19He/m2, BF, 30K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85163
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E19He/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85164. Cu, Heイオン照射, 0.11E19He/m2, DF, 50K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85164
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85165. Cu, Heイオン照射, 0.11E19He/m2, BF, 50K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85165
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E19He/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85166. Cu, Heイオン照射, 0.11E19He/m2, DF, 100K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85166
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85167. Cu, Heイオン照射, 0.11E19He/m2, DF, 100K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85167
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85168. Cu, Heイオン照射, 0.11E19He/m2, DF, 30K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85168
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85169. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, DF, 30K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85169
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)2nd　obs. 日付元記載「12/16」.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85170. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, DF, 50K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85170
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85171. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, DF, 50K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85171
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)-2.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85172. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, DF, 50K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85172
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)just.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85173. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, BF, 100K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85173
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85174. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, BF, 100K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85174
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85175. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, DF, 100K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85175
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85176. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, DF, 100K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85176
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)隣.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85177. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, BF, 100K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85177
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)隣.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85178. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, DF, 100K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85178
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)隣.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85179. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, BF, 100K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85179
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)隣.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85180. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, BF, 50K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85180
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)隣.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85181. Cu, Heイオン照射, 2.2E19He/m2, DF, 50K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85181
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.2E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)隣.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85182. Cu, Heイオン照射, 0.44E19He/m2, DF, 30K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85182
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)2nd　obs. 日付元記載「12/16」. 実験者元記載「Kiz」.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85183. Cu, Heイオン照射, 0.44E19He/m2, DF, 50K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85183
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85184. Cu, Heイオン照射, 0.44E19He/m2, BF, 50K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85184
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E19He/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85185. Cu, Heイオン照射, 0.44E19He/m2, DF, 100K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85185
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85186. Cu, Heイオン照射, 0.44E19He/m2, DF, 100K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85186
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85187. Cu, Heイオン照射, 0.44E19He/m2, BF, 100K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85187
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E19He/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85188. Cu, Heイオン照射, 0.44E19He/m2, BF, 50K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85188
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E19He/m2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85189. Cu, Heイオン照射, 0.44E19He/m2, DF, 50K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85189
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E19He/m2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85190. Cu, Heイオン照射, 0.44E19He/m2, ED., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85190
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E19He/m2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85191. Cu, Heイオン照射, 0.44E19He/m2., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85191
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E19He/m2.

(備考)ミス.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85192. Ni, サイクルII-A, BF, 20K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85192
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「12/16」. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85193. Ni, サイクルII-A, DF, 20K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85193
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85194. Ni, サイクルII-A, BF, 20K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85194
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85195. Ni, サイクルII-A, DF, 20K., [1992年]12/16.

 アイテム
資料番号: L-85195
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85196. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 30sec, DF, 50K., [1992年]12/16.

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資料番号: L-85196
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)110.

(備考)order. 日付元記載「12/16」. 実験者元記載「飯吉」.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85197. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 30sec, DF, 100K., [1992年]12/16.

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資料番号: L-85197
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)order.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85198. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 60sec, DF, 100K., [1992年]12/16.

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資料番号: L-85198
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)60sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)order.

日付: [1992年]12/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85199. Ni, DF, 100K., [1992年]12/17.

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資料番号: L-85199
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

(備考)gの正負　α①. 日付元記載「12/17」. 実験者元記載「大浦」.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85200. Ni, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85200
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.

(備考)α②.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85201. Ni, 100K., [1992年]12/17.

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資料番号: L-85201
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.

(備考)β①.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85202. Ni, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85202
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.

(備考)β②.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85203. Ni, ED., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85203
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85204. Ni, ED., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85204
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85205. Ni, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85205
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.

(備考)β①　weak　beam.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85206. Ni, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85206
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85207. Ni, DF, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85207
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85208. Ni, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85208
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85209. Ni, ED., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85209
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85210. Ni, DF, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85210
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)①.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85211. Ni, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85211
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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