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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85212. Ni, DF, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85212
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85213. Ni, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85213
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85214. Ni, ED., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85214
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85215. Ni, DF, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85215
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85216. Ni, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85216
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85217. Ni, ED., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85217
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85218. Ni, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85218
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)100K.

(備考)①.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85219. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 10sec, DF, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85219
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)10sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)order. 日付元記載「12/17」.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85220. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 10sec, DF, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85220
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)10sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85221. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 60sec, DF, 50K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85221
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)60sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85222. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 60sec, DF, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85222
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)60sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)nomal.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85223. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 60sec, DF, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85223
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)60sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)nomal.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85224. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 60sec, DF, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85224
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)60sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)nomal.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85225. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 60sec, DF, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85225
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)60sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)order？.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85226. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 110sec, DF, 100K., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85226
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)110sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)normal.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85227. Cu3Au., [1992年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-85227
範囲と内容

(試料)Cu3Au.

日付: [1992年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85229. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85229
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　-14.1赤2（280）. 日付元記載「12/19」. 実験者元記載「霜島」（”霧島”の誤りか）.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85230. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85230
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85231. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85231
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85232. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85232
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85233. Ag, Heイオン照射, ED., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85233
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85234. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85234
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85235. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85235
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)　-21.5赤0.5（340）.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85236. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85236
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)　-21.5赤0.5（340）.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85237. Ag, Heイオン照射, ED., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85237
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　-21.5赤0.5（340）.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85238. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85238
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　-21.5赤0.5（340）.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85239. Ag, Heイオン照射, BF., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85239
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)失敗　β　-21.5赤0.5（340）.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85240. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85240
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85241. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85241
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85242. Ag, Heイオン照射., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85242
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射.

(備考)β.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85243. Ag, Heイオン照射, ED., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85243
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85244. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85244
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-15.5赤6（60）.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85245. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85245
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85246. Ag, Heイオン照射, ED., [1992年]12/19.

 アイテム
資料番号: L-85246
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85248. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85248
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）. 日付元記載「12/20」. 実験者元記載「井上」.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85249. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85249
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85250. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85250
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85251. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85251
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85252. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85252
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85253. 100C-I, 50K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85253
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)50K.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85254. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85254
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85255. 100C-I, 50K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85255
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)50K.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85256. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85256
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85257. 100C-I, 50K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85257
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85258. 100C-I, 50K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85258
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85259. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85259
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85260. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85260
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85261. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85261
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85262. 100C-I, 50K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85262
範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85263. V, 50K., [1992年]12/20.

 アイテム
資料番号: L-85263
範囲と内容

(試料)V. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（111）. 日付元記載「12/20」. 実験者元記載「井上」.

日付: [1992年]12/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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