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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85519. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85519
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)4th　obs.　α＋25.2赤17（170）. 日付元記載「12/27」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85520. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85520
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85521. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85521
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β＋15.0赤19（150）.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85522. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85522
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85523. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85523
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85524. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85524
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α-13.2赤4（348）　Area　1.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85525. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85525
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　area　1.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85526. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85526
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　area　1.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85527. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85527
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　area　1.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85528. Ag, Cuイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85528
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　area　1.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85529. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85529
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β-4.0赤2（118）　area　1　失敗.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85530. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85530
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　area　1.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85531. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85531
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　area　1.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85532. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85532
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　area　1.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85533. Ag, Cuイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85533
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　area　1.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85534. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85534
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α＋20.0赤（212）　area　2.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85535. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85535
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　area　2.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85536. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85536
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　area　2.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85537. Ag, Cuイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85537
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　area　2.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85538. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85538
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　12.2赤5（40）　area　2.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85539. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85539
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　area　2.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85540. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85540
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　area　2.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85541. Ag, Cuイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85541
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　area　2.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85542. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-85542
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-10.0赤18（175）area　3. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85543. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-85543
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　area　3.

日付: [1993年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85544. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-85544
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　area　3.

日付: [1993年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85545. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-85545
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-6.0赤10（338）　area　3.

日付: [1993年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85546. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-85546
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　area　3.

日付: [1993年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85547. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-85547
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　area　3.

日付: [1993年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85548. Ag, Cuイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1993年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-85548
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　.

日付: [1993年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85549. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85549
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　＋7黒0-3（300）A. 日付元記載「12/28」.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85550. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85550
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　A.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85551. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85551
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85552. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85552
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　B.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85553. Ag, Heイオン照射1MeV, ED., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85553
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85554. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85554
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85555. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85555
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85556. Ag, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85556
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85557. Ag, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85557
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85558. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85558
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　＋17黒9（0）.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85559. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

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資料番号: L-85559
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85560. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85560
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85561. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85561
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85562. Ag, Heイオン照射1MeV, ED., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85562
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85563. Ag, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85563
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85564. Ag, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85564
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85565. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 150K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85565
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋17.黒9（0）.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85566. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85566
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85567. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85567
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85568. Ag, Heイオン照射1MeV., [1992年]12/28.

 アイテム
資料番号: L-85568
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV.

(備考)失敗.

日付: [1992年]12/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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