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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85720. Cu-2Sn, T132, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85720
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T132. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85721. Cu-2Sn, T132, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85721
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T132. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85722. Cu-2Sn, T132, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85722
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T132. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85723. Cu-2Sn, T132, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85723
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T132. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85724. Cu-2Sn, T132, サイクルII-B, ED., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85724
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T132. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85725. Cu-2Sn, T132, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85725
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T132. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β＋9黒24（80）.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85726. Cu-2Sn, T132, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85726
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T132. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85727. Cu-2Sn, T132, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85727
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T132. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85728. Cu-2Sn, T132, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85728
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T132. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85729. Cu-2Sn, T132, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85729
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T132. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85730. Cu-2Sn, T132, サイクルII-B, ED., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85730
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T132. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85731. Cu-2Sn, T132, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85731
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T132. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)となり.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85732. Ni, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85732
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　α＋3黒3（0）A.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85733. Ni, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85733
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)αB.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85734. Ni, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85734
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)αA.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85735. Ni, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85735
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)αB.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85736. Ni, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85736
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85737. Ni, サイクルII-B, ED., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85737
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85738. Ni, サイクルII-B, DF, 10K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85738
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K.

(備考)α.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85739. Ni, サイクルII-B, DF, 10K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85739
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K.

(備考)α.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85740. Ni, サイクルII-B, BF, 30K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85740
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α薄.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85741. Ni, サイクルII-B, BF, 30K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85741
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α中.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85742. Ni, サイクルII-B, BF, 30K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85742
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α厚い所.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85743. Ni, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85743
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85744. Ni, サイクルII-B, DF, 10K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85744
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85745. Ni, サイクルII-B, BF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85745
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　ボイド？.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85746. Ni, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85746
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β＋8黒9（0）　A.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85747. Ni, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85747
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)βB.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85748. Ni, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85748
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)βA.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85749. Ni, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85749
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)βB.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85750. Ni, サイクルII-B, ED., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85750
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き（0,0）.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85751. Ni, サイクルII-B, BF, 10K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85751
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85752. Ni, サイクルII-B, BF, 30K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85752
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85753. Ni, サイクルII-B, BF, 30K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85753
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85754. Ni, サイクルII-B, ED., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85754
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き（0,0）のdiff.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85755. Ni, A155, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85755
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A155. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)　つづき　.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85756. Ni, A155, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85756
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A155. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85757. Ni, A155, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85757
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A155. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85758. Ni, A155, サイクルII-B, ED., [1993年1月8日.]

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資料番号: L-85758
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A155. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き（0,0）.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85759. Ni, A155, サイクルII-B, BF, 100K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85759
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A155. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85760. Ni, A155, サイクルII-B, BF, 100K., [1993年1月8日.]

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資料番号: L-85760
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A155. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85761. Ni, A155, サイクルII-B, BF, 10K., [1993年1月8日.]

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資料番号: L-85761
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A155. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)110.

(備考)別の110.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85762. Ni, A155, サイクルII-B, ED., [1993年1月8日.]

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資料番号: L-85762
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A155. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85763. Ni-2Si, A431, サイクルII-B, BF, 10K., [1993年1月8日.]

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資料番号: L-85763
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A431. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85764. Ni-2Si, A431, サイクルII-B, BF, 10K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85764
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A431. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85765. Ni-2Si, A431, サイクルII-B, BF, 10K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85765
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A431. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85766. Ni-2Si, A431, サイクルII-B, ED., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85766
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A431. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き（0,0）.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85767. Ni-2Si, A431, サイクルII-B, ED., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85767
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A431. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き（0,0）.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85768. Ni-2Si, A431, サイクルII-B, BF, 10K., [1993年1月8日.]

 アイテム
資料番号: L-85768
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A431. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年1月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85769. Cu-2Sn, T131, サイクルII-A, DF, 50K., [1993年]1/12.

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資料番号: L-85769
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)T131. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　-5.5赤12（240）. 日付元記載「1/12」.

日付: [1993年]1/12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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