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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85881. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, ED., [1993年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-85881
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85882. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-85882
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋12.0赤01　100.

日付: [1993年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85883. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-85883
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85884. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-85884
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85885. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 73K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85885
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.

(備考)5th　obs.　Area　6　α　-5.0赤2（182）. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85886. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85886
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85887. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, ED., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85887
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85888. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 73K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85888
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.

(備考)β　＋5.0赤3（240）.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85889. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85889
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85890. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, BF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85890
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85891. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85891
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Area　7　α＋12.60（260）.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85892. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85892
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85893. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, ED., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85893
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85894. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85894
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　＋14.0赤8（30）.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85895. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85895
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85896. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, BF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85896
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85897. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85897
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 8　α　-3.5赤10（221）.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85898. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85898
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85899. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, ED., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85899
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85900. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85900
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　-4.0赤18（220）.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85901. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85901
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85902. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, BF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85902
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85903. Ni-2Si, A402, サイクルII-A., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85903
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85904. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, DF, 100K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85904
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85905. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, DF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85905
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85906. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, DF, 100K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85906
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85907. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, DF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85907
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85908. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, ED., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85908
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85909. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, DF, 10K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85909
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85910. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, BF, 10K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85910
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85911. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, BF, 10K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85911
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85912. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, BF, 10K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85912
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85913. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, BF, 10K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85913
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)void？同じ視野.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85914. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, BF, 30K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85914
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)同じ視野.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85915. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, BF, 30K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85915
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)同じ視野.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85916. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, BF, 100K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85916
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)同じ視野.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85917. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, DF, 50K., [1993年1月19日.]

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資料番号: L-85917
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85918. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, DF, 50K., [1993年1月19日.]

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資料番号: L-85918
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85919. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, BF, 100K., [1993年1月19日.]

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資料番号: L-85919
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85920. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, BF, 100K., [1993年1月19日.]

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資料番号: L-85920
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85921. Ni-2Si, A402, サイクルII-A, BF, 100K., [1993年1月19日.]

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資料番号: L-85921
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A402. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85922. Ni-2Cu, A564, サイクルII-A, BF, 50K., [1993年1月19日.]

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資料番号: L-85922
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A564. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　（110）. 実験者元記載「by 小笠原」.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85923. Ni-2Cu, A564, サイクルII-A, BF, 100K., [1993年1月19日.]

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資料番号: L-85923
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A564. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　（110）.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85924. Ni-2Cu, A564, サイクルII-A, DF, 100K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85924
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A564. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　（110）.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85925. Ni-2Cu, A564, サイクルII-A, DF, 50K., [1993年1月19日.]

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資料番号: L-85925
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A564. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　（110）.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85926. Ni-2Cu, A564, サイクルII-A, BF, 30K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85926
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A564. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)disl.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85927. Ni-2Cu, A564, サイクルII-A, DF, 30K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85927
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A564. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)disl.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85928. Ni-2Cu, A564, サイクルII-A, BF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85928
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A564. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)disl　同じ場所.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85929. Ni-2Cu, A564, サイクルII-A, BF, 50K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85929
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A564. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)void？同じ場所.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85930. Ni-2Cu, A564, サイクルII-A, BF, 100K., [1993年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-85930
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A564. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)void.

日付: [1993年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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