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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86539. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86539
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86540. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, ED., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86540
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86541. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86541
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β＋6.5赤12（280）.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86542. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86542
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86543. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 50K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86543
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86544. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 50K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86544
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)つづき　Area　19　3sec　α＋8.8黒13（100）. 日付元記載「2/23」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86545. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 50K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86545
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86546. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86546
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86547. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, ED., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86547
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86548. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86548
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-16.5黒11（330）.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86549. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 50K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86549
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86550. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 50K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86550
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86551. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86551
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)area　20　300sec　α-5.5黒7（300）.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86552. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86552
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86553. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, ED., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86553
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86554. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86554
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-14.0黒9（95）.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86555. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86555
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86556. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86556
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃.

(備考)失敗.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86557. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃., [1993年]2/23.

 アイテム
資料番号: L-86557
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃.

(備考)失敗.

日付: [1993年]2/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86558. Ni, STEM　SCAN　IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86558
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)220.

(備考)α　contour　edge　on. 日付元記載「3/4」.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86559. Ni, STEM　SCAN　IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86559
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)220.

(備考)α　contour　edge　on.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86560. Ni, STEM　SCAN　IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86560
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200.

(備考)β.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86561. Ni, STEM　SCAN　IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86561
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)111.

(備考)γ.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86562. Ni, STEM　SCAN　IRRD, BF, 20K., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86562
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)111.

(備考)γ.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86563. Ni, STEM　SCAN　IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86563
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)111.

(備考)γ.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86564. Ni, STEM　SCAN　IRRD, ED., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86564
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

(備考)γ.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86565. Ni, STEM　SCAN　IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86565
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)δ.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86566. Ni, STEM　SCAN　IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86566
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)δ.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86567. Ni, STEM　SCAN　IRRD, BF, 20K., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86567
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)δ.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86568. Ni, STEM　SCAN　IRRD, ED., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86568
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86569. Ni, STEM　SCAN　IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86569
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)contour殆どedge　on＋2黒0-3（240）.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86570. Ni, STEM　SCAN　IRRD, ED., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86570
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86571. Ni, STEM　SCAN　IRRD., [1993年]3/4.

 アイテム
資料番号: L-86571
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)STEM　SCAN　IRRD.

(備考)ボツ.

日付: [1993年]3/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86572. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86572
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)1st　obs　dummy. 日付元記載「3/6」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86573. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86573
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)dummy.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86574. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86574
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 1.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86575. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86575
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 1.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86576. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86576
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 1.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86577. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86577
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 2.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86578. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86578
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 2.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86579. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86579
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 3.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86580. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86580
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 3.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86581. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86581
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 3.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86582. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86582
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 4.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86583. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86583
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 4.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86584. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86584
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 4.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86585. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86585
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 5.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86586. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86586
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 5.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86587. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86587
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 5.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86588. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.

 アイテム
資料番号: L-86588
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 6.

日付: [1993年]3/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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