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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5620 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89502. Cu3Au, Cu ion照射, 100keV., [1993年9月17日.]

 アイテム
資料番号: L-89502
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)100keV.

(備考)D.

日付: [1993年9月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89503. Cu3Au, Cu ion照射, 100keV., [1993年9月17日.]

 アイテム
資料番号: L-89503
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)100keV.

(備考)E.

日付: [1993年9月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89504. Cu3Au, Cu ion照射, 100keV., [1993年9月17日.]

 アイテム
資料番号: L-89504
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)100keV.

(備考)F.

日付: [1993年9月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89505. Cu3Au, Cu ion照射, 100keV., [1993年9月17日.]

 アイテム
資料番号: L-89505
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)100keV.

(備考)G.

日付: [1993年9月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89506. Cu3Au, Cu ion照射, 100keV., [1993年9月17日.]

 アイテム
資料番号: L-89506
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)100keV. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年9月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89507. Cu3Au, Cu ion照射, 100keV., [1993年9月17日.]

 アイテム
資料番号: L-89507
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)100keV. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年9月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89508. Cu3Au, Cu ion照射, 100keV., [1993年9月17日.]

 アイテム
資料番号: L-89508
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)100keV.

(備考)order.

日付: [1993年9月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89509. Cu3Au, Cu ion照射, 100keV., [1993年9月17日.]

 アイテム
資料番号: L-89509
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)100keV.

(備考)normal.

日付: [1993年9月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89510. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89510
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「9/30」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89511. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89511
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89512. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89512
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89513. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89513
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89514. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 50K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89514
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89515. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, BF, 50K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89515
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89516. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89516
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89517. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89517
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89518. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89518
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89519. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89519
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89520. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89520
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89521. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89521
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89522. Cu-2Si, JMTR, CycleII-A, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89522
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射量)CycleII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89523. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89523
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　0赤12（230）. 日付元記載「9/30」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89524. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89524
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89525. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89525
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89526. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89526
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　0赤0（220）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89527. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89527
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89528. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89528
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89529. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89529
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89530. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89530
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)別視野.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89531. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89531
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89532. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89532
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89533. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89533
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋16赤0（200）. 日付元記載「9/30」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89534. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89534
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89535. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89535
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋20黒6（40）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89536. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89536
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89537. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89537
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89538. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89538
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89539. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89539
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-15黒12（220）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89540. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89540
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89541. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89541
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-10黒0（30）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89542. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89542
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89543. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89543
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89544. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89544
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89545. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89545
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋5赤0（230）. 日付元記載「9/30」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89546. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89546
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89547. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89547
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋16黒6（200）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89548. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89548
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89549. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89549
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89550. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89550
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89551. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89551
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋3赤0（20）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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