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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

5620 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87705. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87705
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87706. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87706
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87707. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87707
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)39　R5(40).

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87708. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87708
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87709. Ni, Heイオン照射, ED., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87709
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)110.

(備考)（200）.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87710. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87710
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)・99　-178.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87711. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87711
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87717. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87717
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「6/2」.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87718. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87718
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87719. Ni, Heイオン照射, DF, BF., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87719
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87720. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87720
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　＋29黒12（60）.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87721. Ni, Heイオン照射, DF, BF., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87721
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87722. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87722
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β　＋32黒12（150）.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87723. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87723
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87724. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87724
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87725. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87725
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87726. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87726
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87727. Ni, Heイオン照射, DF, BF., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87727
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87728. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87728
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87729. Ni, Heイオン照射, DF, BF., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87729
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87730. Ni, Heイオン照射, ED., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87730
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　（110）.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87731. Ni, Heイオン照射., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87731
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射.

(備考)失敗.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87733. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87733
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)続き. 日付元記載「6/2」.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87734. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87734
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87735. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87735
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87736. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87736
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87737. Ni, Heイオン照射, ED., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87737
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　（110）.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87738. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87738
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87739. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87739
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87740. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87740
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87741. Ni, Heイオン照射, DF, 200K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87741
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

(備考)11s.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87742. Ni, Heイオン照射, DF, 200K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87742
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

(備考)8s.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87743. Ni, Heイオン照射, DF, 200K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87743
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

(備考)16s.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87744. Ni, Heイオン照射, BF, 200K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87744
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)1s.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87745. Ni, Heイオン照射, BF, 200K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87745
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)0.7s.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87746. Ni, Heイオン照射, BF, 200K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87746
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)1.4s.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87747. Ni, Heイオン照射, DF, 330K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87747
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)③again　α＋2赤0（40）.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87748. Cu, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/5.

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資料番号: L-87748
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α. 日付元記載「6/5」. 実験者元記載「by Kiz.」.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87749. Cu, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/5.

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資料番号: L-87749
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87750. Cu, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/5.

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資料番号: L-87750
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87751. Cu, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/5.

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資料番号: L-87751
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87752. Cu, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/5.

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資料番号: L-87752
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87753. Cu, Heイオン照射, DF., [1993年]6/5.

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資料番号: L-87753
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　＋4赤6（140）.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87754. Cu, Heイオン照射, DF., [1993年]6/5.

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資料番号: L-87754
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87755. Cu, Heイオン照射, DF., [1993年]6/5.

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資料番号: L-87755
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87756. Cu, Heイオン照射., [1993年]6/5.

 アイテム
資料番号: L-87756
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射.

(備考)β.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87757. Cu, Heイオン照射, BF., [1993年]6/5.

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資料番号: L-87757
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87758. Cu, Heイオン照射., [1993年]6/5.

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資料番号: L-87758
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射.

(備考)⑤. 日付元記載「6/5」. 実験者元記載「by Kiz.」.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87759. Cu, Heイオン照射., [1993年]6/5.

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資料番号: L-87759
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87760. Cu, Heイオン照射., [1993年]6/5.

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資料番号: L-87760
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射.

日付: [1993年]6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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