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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5620 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87862. Cu3Au, Cuイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87862
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)order.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87863. Cu3Au, Cuイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87863
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)order.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87864. Cu3Au, Cuイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87864
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)order　C.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87865. Cu3Au, Cuイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87865
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)order.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87866. Cu3Au, Cuイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87866
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)order　D.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87867. Cu3Au, Cuイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87867
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)order.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87868. Cu3Au, Cuイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87868
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)order.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87869. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87869
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)100.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87870. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87870
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87871. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87871
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87872. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87872
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87873. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87873
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87874. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87874
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87875. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87875
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87876. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-87876
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)？.

日付: [1993年]6/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87878. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 20K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87878
範囲と内容

(試料)JPCAM. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「6/9」.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87879. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 50K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87879
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87880. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87880
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87881. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87881
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87882. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87882
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)奥.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87883. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 20K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87883
範囲と内容

(試料)JPCAM. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)試料超薄い.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87884. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 20K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87884
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87885. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 50K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87885
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87886. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87886
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87887. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87887
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)奥.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87888. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 150K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87888
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87889. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87889
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87890. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87890
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)少し奥.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87891. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 20K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87891
範囲と内容

(試料)JPCAM. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87892. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 50K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87892
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87893. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87893
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87894. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87894
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)奥.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87895. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 150K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87895
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87896. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 20K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87896
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87897. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 50K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87897
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87898. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87898
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87899. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

 アイテム
資料番号: L-87899
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87900. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃., [1993年]6/9.

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資料番号: L-87900
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87901. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 20K., [1993年]6/9.

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資料番号: L-87901
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87902. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 50K., [1993年]6/9.

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資料番号: L-87902
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ボイド.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87903. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 50K., [1993年]6/9.

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資料番号: L-87903
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ボイド　奥.

日付: [1993年]6/9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87904. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

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資料番号: L-87904
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「6/11」.

日付: [1993年]6/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87905. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

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資料番号: L-87905
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87906. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/11.

 アイテム
資料番号: L-87906
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87907. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

 アイテム
資料番号: L-87907
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87908. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/11.

 アイテム
資料番号: L-87908
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87909. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

 アイテム
資料番号: L-87909
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87910. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/11.

 アイテム
資料番号: L-87910
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87911. Ni, Heイオン照射, DF, 200K., [1993年]6/11.

 アイテム
資料番号: L-87911
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87912. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

 アイテム
資料番号: L-87912
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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