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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

5620 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87148. ?, DF, 100K., [1993年4月16日.]

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資料番号: L-87148
範囲と内容

(試料)?. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.

(備考)α +3.2赤0.5(300)Area A.

日付: [1993年4月16日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87172., [1993年4月16日.]

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資料番号: L-87172
範囲と内容 コレクション :  高エネルギー粒子の材料照射実験は,材料に欠陥を導入する手段として,また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は,原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や,放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。  本資料は,金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い,照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり,さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく,いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更(実験規模の縮小)により,もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1993年4月16日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87173. Ag, Cuイオン照射&HVEM, DF, 100K., [1993年]4/20.

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資料番号: L-87173
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射&HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)右↷  α+1.3黒4(320)Area A. 日付元記載「4/20」. 実験者元記載「Kiritani Simojima」.

日付: [1993年]4/20.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87192. Ag, Cuイオン照射&HVEM, DF., [1993年]4/20.

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資料番号: L-87192
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射&HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.

(備考)β+0.5黒1(40) C.

日付: [1993年]4/20.