共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93352. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93352

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93353. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93353

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ビーム当たっていない？.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93354. Ni, He ion照射500keV, 50μA., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93354

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)dot多し?　コンタミ.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93355. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93355

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93356. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93356

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ゴミ多し.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93357. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93357

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93358. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93358

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93359. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93359

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93360. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93360

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93361. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93361

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ゴミ多し.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93362. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93362

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93363. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93363

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93364. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93364

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93365. Ni, He ion照射500keV, 50μA, ED., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93365

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)100.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93366. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93366

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93367. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93367

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93368. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93368

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93369. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93369

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93370. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93370

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93371. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93371

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93372. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93372

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93373. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93373

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別の場所.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93374. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93374

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別の場所.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93375. Ni, He ion照射500keV, 50nA, BF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93375

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ. 日付元記載「2/19」. 実験者元記載「Iseki」.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93376. Ni, He ion照射501keV, 50nA, DF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93376

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射501keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93377. Ni, He ion照射502keV, 50nA, BF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93377

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射502keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93378. Ni, He ion照射503keV, 50nA, BF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93378

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射503keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)二本はすし.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93379. Ni, He ion照射504keV, 50nA, DF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93379

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射504keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93380. Ni, He ion照射505keV, 50nA, DF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93380

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射505keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)欠陥ではない？.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93381. JPCAM, irr., DF, 20K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93381

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　-2.5　0. 日付元記載「2/21」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93382. JPCAM, irr., DF, 100K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93382

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93383. JPCAM, irr., DF, 100K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93383

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93384. JPCAM, irr., DF, 150K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93384

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93385. JPCAM, irr., ED., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93385

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93386. JPCAM, irr., BF, 100K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93386

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　　-1　黒160.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93387. JPCAM, irr., DF, 100K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93387

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93388. JPCAM, irr., DF, 150K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93388

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93389. JPCAM, irr., ED., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93389

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93391. Ag, LAMPF, DF, 100K., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93391

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)Area　A　α　＋.15赤5（180）. 日付元記載「1994. 3. 5.」. 実験者元記載「Kiritani, w. Kizuka & Yamagishi」.

日付: 1994. 3. 5.