メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

5620 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93758. Cu, Ne ion照射, DF, 100K., [1994年3月22日.]

 アイテム
資料番号: L-93758
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年3月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93759. Cu, Ne ion照射, DF, 100K., [1994年3月22日.]

 アイテム
資料番号: L-93759
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)②.

日付: [1994年3月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93760. Cu, Ne ion照射, DF, 50K., [1994年3月22日.]

 アイテム
資料番号: L-93760
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)同じグレイン別な場所.

日付: [1994年3月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93761. Cu, Ne ion照射, DF, 100K., [1994年3月22日.]

 アイテム
資料番号: L-93761
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1994年3月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93762. Cu, Ne ion照射, DF, 50K., [1994年3月22日.]

 アイテム
資料番号: L-93762
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)対応？.

日付: [1994年3月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93763. Cu, Ne ion照射, DF, 100K., [1994年3月22日.]

 アイテム
資料番号: L-93763
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)対応？.

日付: [1994年3月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93764. Cu, Ne ion照射, DF, 50K., [1994年3月22日.]

 アイテム
資料番号: L-93764
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)対応？.

日付: [1994年3月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93765. Cu, Ne ion照射, DF, 100K., [1994年3月22日.]

 アイテム
資料番号: L-93765
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)対応？.

日付: [1994年3月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93766. Cu, Ne ion照射, DF, 50K., [1994年3月22日.]

 アイテム
資料番号: L-93766
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)対応？.

日付: [1994年3月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93767. Cu, Ne ion照射, DF, 100K., [1994年3月22日.]

 アイテム
資料番号: L-93767
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)対応？.

日付: [1994年3月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93768. Cu, Ne ion照射, DF, 50K., [1994年3月22日.]

 アイテム
資料番号: L-93768
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1994年3月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93769. Cu, Ne ion照射, DF, 100K., [1994年3月22日.]

 アイテム
資料番号: L-93769
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1994年3月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93770. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93770
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)日付元記載「'94/3/23 (水)」. 実験者元記載「by 小笠原」.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93771. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93771
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93772. Ni, JMTR, 200℃, DF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93772
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93773. Ni, JMTR, 200℃, BF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93773
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93774. Ni, JMTR, 200℃, DF, 200K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93774
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93775. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93775
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93776. Ni, JMTR, 200℃, DF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93776
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93777. Ni, JMTR, 200℃, DF, 200K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93777
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93778. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93778
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93779. Ni, JMTR, 200℃, DF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93779
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93780. Ni, JMTR, 200℃, DF, 50K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93780
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93781. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [19]'94/3/23 (水),

 アイテム
資料番号: L-93781
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'94/3/23 (水),
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93784. Ni, He ion照射1MeV, DF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93784
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋20.8赤12.4（0）. 日付元記載「3/23 (Wed)」. 実験者元記載「桐谷, 林」.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93785. Ni, He ion照射1MeV, ED., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93785
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93786. Ni, He ion照射1MeV, DF., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93786
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93787. Ni, He ion照射1MeV, ED., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93787
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93788. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93788
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93789. Ni, He ion照射1MeV, DF, 20K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93789
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93790. Ni, He ion照射1MeV, DF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93790
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93791. Ni, He ion照射1MeV, DF, 20K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93791
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93792. Ni, He ion照射1MeV, BF, 100K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93792
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93793. Ni, He ion照射1MeV., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93793
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93794. Ni, He ion照射1MeV, DF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93794
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋14.3赤10.0（220）.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93795. Ni, He ion照射1MeV, ED., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93795
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93796. Ni, He ion照射1MeV, DF., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93796
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93797. Ni, He ion照射1MeV, ED., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93797
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93798. Ni, He ion照射1MeV, DF, 100K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93798
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93799. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93799
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93800. Ni, He ion照射1MeV, BF, 20K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93800
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93801. Ni, He ion照射1MeV, DF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93801
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)グレイン変える.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93802. Ni, He ion照射1MeV, ED., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93802
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93804. Ni, He ion照射1MeV, DF, 100K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93804
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93805. Ni, He ion照射1MeV, DF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93805
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93806. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93806
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93807. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93807
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93808. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93808
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93809. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93809
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)その奥.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93810. Ni, He ion照射1MeV, BF, 50K., [1994年]3/23 (Wed).

 アイテム
資料番号: L-93810
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)更に奥.

日付: [1994年]3/23 (Wed).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ