メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

4294 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59502. Ni, 1, ED, 55cm., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: L-59502
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)1. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59503. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59503
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「90. 9. 12」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59504. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59504
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59505. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59505
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59506. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59506
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59507. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59507
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)G.B.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59508. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59508
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)厚いところ.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59509. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 10K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59509
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59510. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59510
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59511. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, DF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59511
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59512. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59512
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59513. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, DF, 150K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59513
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59514. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 100K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59514
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ボイドなし.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59515. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, ED., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59515
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59516. Ni-2Si, JMTR, 350℃., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59516
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

(備考)日付元記載「90. 9. 12」. 実験者元記載「（円の中に）浜」.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59517. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59517
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59518. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59518
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59519. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59519
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59520. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59520
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59521. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59521
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59522. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 150K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59522
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ボイドなし.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59523. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59523
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)SFTなし.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59524. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 10K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59524
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59525. Ni-2Si, JMTR, 350℃, ED., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59525
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59526. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59526
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)G.B.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59527. Ni-2Cu, JMTR, 400℃, BF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59527
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「90. 9. 12」. 実験者元記載「（円の中に）浜」.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59528. Ni-2Cu, JMTR, 400℃, BF, 50K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59528
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59529. Ni-2Cu, JMTR, 400℃, DF, 20K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59529
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59530. Ni-2Cu, JMTR, 400℃, DF, 50K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59530
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59531. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59531
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　just.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59532. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59532
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α over M 4 step.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59533. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59533
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α under.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59534. Ni-2Si, JMTR, 350℃, ED., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59534
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59535. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59535
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α just.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59536. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59536
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α over 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59537. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59537
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α under 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59538. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59538
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β just.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59539. Ni-2Si, JMTR, 350℃., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59539
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

(備考)β over 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59540. Ni-2Si, JMTR, 350℃., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59540
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

(備考)β over 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59541. Ni-2Si, JMTR, 350℃., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59541
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

(備考)β under 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59542. Ni-2Si, JMTR, 350℃, ED., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59542
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59543. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59543
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59544. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59544
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α just.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59545. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59545
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α over 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59546. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59546
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α under 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59547. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59547
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59548. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59548
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β just.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59549. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59549
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β over 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59550. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59550
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β under 3 step.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-59551. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [19]90. 9. 12.

 アイテム
資料番号: L-59551
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [19]90. 9. 12.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ