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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度

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件名：ソース: Ku Peek Class

4294 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60143. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M, BF., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60143
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)スクリュー転位.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60144. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M, DF., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60144
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60145. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60145
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60146. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60146
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60147. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60147
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60148. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60148
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60149. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60149
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60150. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60150
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60151. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60151
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M. (反射ベクトルg)ｇ下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)α.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60152. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60152
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M. (反射ベクトルg)ｇ下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60153. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60153
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M. (反射ベクトルg)ｇ上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)α.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60154. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60154
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M. (反射ベクトルg)ｇ上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60155. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60155
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M. (反射ベクトルg)ｇ下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)β.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60156. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60156
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M. (反射ベクトルg)ｇ下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60157. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60157
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M. (反射ベクトルg)ｇ上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)β.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60158. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60158
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M. (反射ベクトルg)ｇ上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60159. Ni, A116, RTNS-II, 290℃(Hin), M, ED., [19]90/11/13.

 アイテム
資料番号: L-60159
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号) A116. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90/11/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60160. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60160
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60161. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60161
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60162. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60162
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60163. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60163
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60164. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60164
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60165. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60165
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60166. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60166
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60167. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60167
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60168. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60168
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60169. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60169
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60170. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60170
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60171. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60171
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60172. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60172
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60173. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60173
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60174. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60174
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60175. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60175
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60176. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, ED., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60176
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60177. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60177
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60178. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

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資料番号: L-60178
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60179. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

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資料番号: L-60179
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g下向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60180. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

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資料番号: L-60180
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60181. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60181
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60182. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60182
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60183. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60183
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60184. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

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資料番号: L-60184
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60185. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60185
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60186. Ni, A118, RTNS-II, 290(Hin), W, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60186
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60187. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 50K., [1990年11月13日.]

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資料番号: L-60187
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)粒界にループが多い。.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60188. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 100K., [1990年11月13日.]

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資料番号: L-60188
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60189. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 50K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60189
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ループ多い.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60190. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 30K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60190
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)粒界近く.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60191. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, BF, 15K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60191
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60192. Ni, RTNS-II, 290℃(Hin), S, DF, 100K., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60192
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃(Hin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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