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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

4294 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48178. Au, G012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 50K., 1990. 6. 26.

 アイテム
資料番号: L-48178
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A. 日付元記載「1990. 6. 26」.

日付: 1990. 6. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48179. Au, G012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 50K., 1990. 6. 26.

 アイテム
資料番号: L-48179
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: 1990. 6. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48180. Au, G012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 50K., 1990. 6. 26.

 アイテム
資料番号: L-48180
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: 1990. 6. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48181. Au, G012, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 50K., 1990. 6. 26.

 アイテム
資料番号: L-48181
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: 1990. 6. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48182. Au, G012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., 1990. 6. 26.

 アイテム
資料番号: L-48182
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: 1990. 6. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48183. Au, G012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., 1990. 6. 26.

 アイテム
資料番号: L-48183
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A.

日付: 1990. 6. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48184. Au, G012, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., 1990. 6. 26.

 アイテム
資料番号: L-48184
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1990. 6. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48185. Au, G012, RTNS-II, 290℃, SS, ED., 1990. 6. 26.

 アイテム
資料番号: L-48185
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1990. 6. 26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48186. Au, G012, RTNS-II, 290℃, S, BF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48186
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A 86～88まで順次隣へ.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48187. Au, G012, RTNS-II, 290℃, S, BF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48187
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48188. Au, G012, RTNS-II, 290℃, S, BF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48188
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48189. Au, G012, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48189
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48190. Au, G012, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48190
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48191. Au, G012, RTNS-II, 290℃, S, ED., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48191
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G012. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48192. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S, BF, 10K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48192
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48193. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S, BF, 5K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48193
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)奥からedgeへ.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48194. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S, BF, 5K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48194
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48195. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S, BF, 5K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48195
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48196. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48196
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

(備考)edge.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48197. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48197
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48198. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48198
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48199. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48199
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

(備考)奥.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48200. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S, ED., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48200
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48201. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S, DF, 5K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48201
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K.

(備考)同上視野　傾き変える　edgeから奥へ.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48202. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48202
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48203. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48203
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

(備考)↓.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48204. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48204
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

(備考)奥.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48205. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48205
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

(備考)傾き変える.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48206. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48206
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48207. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S, 5K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48207
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (条件・倍率等)5K.

(備考)傾き変える.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48208. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48208
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48209. Ni, A014, RTNS-II, 290℃, S., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48209
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A014. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

(備考)」.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48210. Ni, A018, RTNS-II, 290℃, M, BF, 20K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48210
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A018. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)loopいない.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48211. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48211
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48212. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48212
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48213. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48213
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48214. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48214
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48215. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48215
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48216. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48216
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48217. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48217
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48218. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48218
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48219. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, ED, 55cm., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48219
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)110.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48220. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48220
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48221. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48221
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48222. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48222
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48223. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48223
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ノート読みとれず　多分dislocation.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48224. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, BF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48224
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48225. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, BF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48225
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ノート読みとれず　多分dislocation.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48226. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, BF, 50K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48226
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48227. Ni-2Sn, 2-12, JMTR, 200℃, BF, 30K., [1990年6月26日.]

 アイテム
資料番号: L-48227
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号) 2-12. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1990年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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