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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

4294 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60897. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60897
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)dnuded zoneあり.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60898. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60898
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60899. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60899
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60900. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60900
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)55cm.

(備考)」.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60901. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60901
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60902. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60902
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60903. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60903
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)」.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60904. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60904
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60905. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60905
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)デカループあり。顕著ではない。.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60906. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60906
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)」.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60907. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60907
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60908. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60908
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)デカループ顕著.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60909. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60909
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)a 」.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60910. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60910
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)b　　デカループあり。Denuded zone多少狭い.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60911. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 7.3K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60911
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

(備考)a,bが両方写るようにした。.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60912. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60912
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)変な面　」.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60913. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60913
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60914. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60914
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)デカループあり.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60915. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60915
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60916. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60916
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60917. Ni-2Si, 400℃-U, BF, 20K., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60917
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)デカループ目立たない（殆どない）denuded zoneあり.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60918. Ni-2Si, 400℃-U, ED, 55cm., [1990年11月21日.]

 アイテム
資料番号: L-60918
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年11月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61432. JHM-1, JMTR, 400℃, BF, 50K., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61432
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)日付元記載「1991. 2. 6」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61433. JHM-1, JMTR, 400℃, BF, 100K., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61433
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61434. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61434
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61435. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61435
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61436. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61436
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61437. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61437
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61438. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61438
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61439. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61439
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61440. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61440
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61441. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61441
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61442. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61442
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61443. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61443
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61444. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61444
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

(備考)ボイドあり　100Kと30K.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61445. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61445
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

(備考)ボイドあり　100Kと31K.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61446. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61446
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

(備考)ボイドあり　100Kと32K.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61447. JHM-1, JMTR, 400℃., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61447
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

(備考)ボイドあり　100Kと33K.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61448. JHM-1, JMTR, 400℃, ED., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-61448
範囲と内容

(試料)JHM-1. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61475. Cu, 200℃-C, BF, 50K., 1991/2/4~2/8 (2/9)., [1991-02-04/1991-02-09.]

 アイテム
資料番号: L-61475
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)日付元記載「1991/2/4~2/8 (2/9)」.

日付: 1991/2/4~2/8 (2/9).; [1991-02-04/1991-02-09.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61476. Cu, 200℃-C, BF, 50K., 1991/2/4~2/8 (2/9)., [1991-02-04/1991-02-09.]

 アイテム
資料番号: L-61476
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: 1991/2/4~2/8 (2/9).; [1991-02-04/1991-02-09.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61477. Cu, 200℃-C, BF, 50K., 1991/2/4~2/8 (2/9)., [1991-02-04/1991-02-09.]

 アイテム
資料番号: L-61477
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: 1991/2/4~2/8 (2/9).; [1991-02-04/1991-02-09.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61478. Cu, 200℃-C, BF, 50K., 1991/2/4~2/8 (2/9)., [1991-02-04/1991-02-09.]

 アイテム
資料番号: L-61478
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: 1991/2/4~2/8 (2/9).; [1991-02-04/1991-02-09.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61479. Cu, 200℃-C, DF, 50K., 1991/2/4~2/8 (2/9)., [1991-02-04/1991-02-09.]

 アイテム
資料番号: L-61479
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: 1991/2/4~2/8 (2/9).; [1991-02-04/1991-02-09.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61480. Cu, 200℃-C, DF, 50K., 1991/2/4~2/8 (2/9)., [1991-02-04/1991-02-09.]

 アイテム
資料番号: L-61480
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: 1991/2/4~2/8 (2/9).; [1991-02-04/1991-02-09.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61481. Cu, 200℃-C, ED, 50K., 1991/2/4~2/8 (2/9)., [1991-02-04/1991-02-09.]

 アイテム
資料番号: L-61481
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)50K.

日付: 1991/2/4~2/8 (2/9).; [1991-02-04/1991-02-09.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61482. Cu, 200℃-C, BF, 50K., 1991/2/4~2/8 (2/9)., [1991-02-04/1991-02-09.]

 アイテム
資料番号: L-61482
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)」.

日付: 1991/2/4~2/8 (2/9).; [1991-02-04/1991-02-09.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61483. Cu-2Sn, 200℃-C, BF, 50K., 1991/2/4~2/8 (2/9)., [1991-02-04/1991-02-09.]

 アイテム
資料番号: L-61483
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: 1991/2/4~2/8 (2/9).; [1991-02-04/1991-02-09.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61484. Cu-2Sn, 200℃-C, BF, 50K., 1991/2/4~2/8 (2/9)., [1991-02-04/1991-02-09.]

 アイテム
資料番号: L-61484
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: 1991/2/4~2/8 (2/9).; [1991-02-04/1991-02-09.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61485. Cu-2Sn, 200℃-C, BF, 50K., 1991/2/4~2/8 (2/9)., [1991-02-04/1991-02-09.]

 アイテム
資料番号: L-61485
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: 1991/2/4~2/8 (2/9).; [1991-02-04/1991-02-09.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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