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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

4294 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64751. Au, RTNS-IIlast, S, DF, 160K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64751
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

(備考)n＝2.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64752. Au, RTNS-IIlast, S, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64752
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64753. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64753
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝3.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64754. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64754
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝4.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64755. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64755
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝5.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64756. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64756
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝6.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64757. Au, RTNS-IIlast, S, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64757
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64758. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64758
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝7　6.5らしい.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64759. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64759
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝7.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64760. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64760
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝8.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64761. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64761
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝9.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64762. Au, RTNS-IIlast, S, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64762
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64763. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64763
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝10.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64764. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64764
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝11.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64765. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64765
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝12.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64766. Au, RTNS-IIlast, S, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64766
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64767. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64767
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝13.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64768. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64768
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝14.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64769. Au, RTNS-IIlast, S, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64769
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64770. Au, RTNS-IIlast, S, DF, 160K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64770
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64771. Au, RTNS-IIlast, S, DF, 160K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64771
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

(備考)n＝2.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64772. Au, RTNS-IIlast, S, DF, 160K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64772
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K.

(備考)n＝3.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64773. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64773
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝4.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64774. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64774
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝5.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64775. Au, RTNS-IIlast, S, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64775
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64776. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64776
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝6.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64777. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64777
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝7.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64778. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64778
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝8.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64779. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64779
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝9.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64780. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64780
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝10.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64781. Au, RTNS-IIlast, S., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64781
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射量)S.

(備考)n＝12.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64832. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64832
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64833. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64833
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64834. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64834
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部へ　同じぐらいの深さ.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64835. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64835
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)同じぐらいの深さ.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64836. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64836
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部　同じぐらいの深さ.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64837. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64837
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64838. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64838
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64839. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64839
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)あまり歪んでいない.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64840. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64840
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64841. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64841
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)map.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64842. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64842
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)map　全体.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64843. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64843
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64844. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64844
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64845. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64845
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部　あまり歪んでいない.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64846. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64846
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)隣.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64847. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64847
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部とエッジの中間ぐらい.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64848. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 31K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64848
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64849. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64849
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)map.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64850. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64850
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)つながるはず1.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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