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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

4294 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48379. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48379
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48380. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48380
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48381. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48381
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48382. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48382
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48383. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48383
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)G.B.　　転位、ボイドはいない.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48384. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48384
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48385. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48385
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ボイド.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48386. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48386
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48387. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48387
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48388. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48388
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48389. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48389
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48390. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 100K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48390
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48391. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, DF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48391
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48392. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, DF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48392
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48393. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, ED, 55cm., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48393
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48394. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48394
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「90. 6. 28」. 実験者元記載「（円の中に）浜」.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48395. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48395
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48396. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48396
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48397. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48397
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48398. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48398
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48399. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48399
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)G.B.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48400. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48400
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)G.B.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48401. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48401
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)ボイド.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48402. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48402
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48403. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48403
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48404. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48404
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)転位.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48405. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48405
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)G.B.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48406. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, DF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48406
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48407. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, DF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48407
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48408. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48408
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48409. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48409
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48410. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48410
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48411. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 100K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48411
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48412. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, ED, 55cm., [19]90. 6. 28.

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資料番号: L-48412
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48413. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 6. 28.

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資料番号: L-48413
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)転位なし. ほとんどループ. 日付元記載「90. 6. 28」. 実験者元記載「（円の中に）浜」.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48414. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

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資料番号: L-48414
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)G.B.にループ多い。ボイドほんとに少ない.

日付: [19]90. 6. 28.
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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48415. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 6. 28.

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資料番号: L-48415
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48416. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

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資料番号: L-48416
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48417. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

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資料番号: L-48417
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)G.B.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48418. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 6. 28.

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資料番号: L-48418
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ボイド少々.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48419. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 20K., [19]90. 6. 28.

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資料番号: L-48419
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48420. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 30K., [19]90. 6. 28.

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資料番号: L-48420
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48421. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48421
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48422. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48422
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48423. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48423
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)G.B.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48424. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 100K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48424
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G.B.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48425. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]90. 6. 28.

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資料番号: L-48425
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48426. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 100K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48426
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48427. Ni-2Si, JMTR, 350℃, ED, 55cm., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48427
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48428. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1990年6月28日.]

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資料番号: L-48428
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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