メインコンテンツへスキップ

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

4294 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65102. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65102
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65103. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65103
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65104. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65104
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)別grain　変形組織.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65105. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65105
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65106. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65106
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65107. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65107
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)チャネル.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65108. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65108
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65109. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65109
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65110. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65110
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)on　GB　同じGrain.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65111. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 16K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65111
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65112. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 16K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65112
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (反射ベクトルg)111？. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65113. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65113
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65114. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65114
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)map（not.00）.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65115. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65115
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65116. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65116
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65117. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65117
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65118. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65118
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65119. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 42K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65119
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65120. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65120
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65121. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65121
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)on　GB.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65122. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65122
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)GBそば　Aから離れる.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65123. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65123
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65124. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65124
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65125. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65125
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)これ以後200.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65126. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65126
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65127. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65127
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65128. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65128
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)GBそば.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65129. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65129
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65130. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65130
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65131. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65131
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65132. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65132
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65133. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65133
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65134. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65134
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65135., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65135
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65136. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65136
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)EMケンマ4回　MAP（0,0）.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65137. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65137
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65138. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65138
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65139. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65139
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65140. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65140
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65141. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 21K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65141
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65142. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65142
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65143. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, BF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65143
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65144. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, BF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65144
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65145. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65145
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65146. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 52K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65146
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65147. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65147
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65148. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65148
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65149. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS, ED., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65149
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65150. Cu-2Ni, RTNS-IIlast, 200℃, SS., [1990年9月13日.]

 アイテム
資料番号: O-65150
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)map（not　0.0）.

日付: [1990年9月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86327. JLF-1, JMTR, 200℃, BF, 13K., [19]90. 11. 13.

 アイテム
資料番号: O-86327
範囲と内容

(試料)JLF-1. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K.

(備考)日付元記載「90. 11. 13」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]90. 11. 13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ