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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

4294 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88216. Ni-2Si, JMTR　controlled, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88216
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88217. Ni-2Si, JMTR　controlled, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88217
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)A.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88218. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88218
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88219. Ni-2Si, JMTR　controlled, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88219
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)B.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88220. Ni-2Si, JMTR　controlled, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88220
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88221. Ni-2Si, JMTR　controlled, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88221
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88222. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88222
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88223. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88223
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88224. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88224
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88225. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88225
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88226. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88226
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88227. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88227
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88228. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88228
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88229. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD, 53K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88229
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)53K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88230. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88230
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88231. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88231
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88232. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88232
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88233. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88233
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88234. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88234
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88235. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88235
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88236. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88236
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88237. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF, 53K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88237
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)53K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88238. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88238
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88239. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88240. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88240
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88241. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88241
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88242. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88242
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88243. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88243
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88244. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88244
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88245. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88245
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88246. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88246
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88247. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88247
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88248. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88248
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88249. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88249
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88250. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 4K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88250
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)4K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88251. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88251
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88252. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88252
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88253. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88253
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-9,10.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88254. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88254
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88255. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88255
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88256. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88256
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88257. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88257
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88258. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88258
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88259. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88259
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88260. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88260
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88261. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88261
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88262. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88262
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88263. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88263
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-8赤9（0）.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88264. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88264
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88265. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88265
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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