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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

4294 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88266. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88266
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88267. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88267
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88268. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88268
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88269. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88269
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88270. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88270
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88271. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88271
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88272. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88272
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88273. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88273
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88274. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88274
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88275. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88275
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88276. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88276
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88277. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88277
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88278. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88278
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88279. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88279
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88280. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88280
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Grain　boundary.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88281. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88281
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88282. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88282
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88283. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88283
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88284. Ni-2Si, A893, JMTR　controlled, 200℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88284
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)grain　boundary.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88285. Ni-2Si, A893, JMTR　controlled, 200℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88285
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88286. Ni-2Si, A893, JMTR　controlled, 200℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88286
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88287. Ni-2Si, A893, JMTR　controlled, 200℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88287
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88288. Ni, A861, JMTR, 120℃, DF, 52K., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88288
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)日付元記載「1991. 2. 6.」.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88289. Ni, A861, JMTR, 120℃, ED., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88289
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88290. Ni, A861, JMTR, 120℃, ED., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88290
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)コンタミ多く断念.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88291. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, BF, 52K., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88291
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88292. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, ED., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88292
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Epitaxcial膜厚く不可能.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88293. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88293
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-7.2　赤1.5（140）A　near（110）.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88294. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88294
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88295. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88295
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88296. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88296
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88297. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88297
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88298. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88298
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-15.7赤2.5（240）A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88299. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88299
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88300. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88300
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88301. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88301
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88302. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88302
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88303. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88303
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88304. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88304
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88305. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88305
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88306. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88306
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88307. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88307
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88308. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88308
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88309. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88309
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88310. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88310
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88311. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88311
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88312. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88312
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88313. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88313
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88314. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88314
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88315. Ni-2Sn, A981, JMTR, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88315
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A981. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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