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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

4294 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88766. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88766
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88767. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88767
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88768. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88768
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88769. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, BF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88769
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88770. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88770
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α-28.5黒12-15（120）.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88771. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88771
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88772. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88772
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88773. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88773
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88774. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88774
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88775. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, ED., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88775
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88776. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88776
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-21.5黒6-9（200）.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88777. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88777
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88778. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88778
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88779. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88779
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88780. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88780
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88781. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, ED., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88781
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88782. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88782
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88783. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88783
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88784. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88784
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88785. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, BF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88785
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88786. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88786
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　＋21黒12-15（120）.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88787. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88787
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88788. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88788
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88789. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88789
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88790. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88790
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88791. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, ED., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88791
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88792. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88792
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　＋15黒9-12（180）.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88793. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88793
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88794. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88794
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88795. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88795
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88796. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88796
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88797. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, ED., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88797
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88798. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88798
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88799. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

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資料番号: O-88799
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88800. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

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資料番号: O-88800
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88801. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, BF, 31K., [1991年2月8日.]

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資料番号: O-88801
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88802. Ni-２Sn, N251, JMTR, 200℃, BF, 31K., [1991年2月8日.]

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資料番号: O-88802
範囲と内容

(試料)Ni-２Sn. (試料番号)N251. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[記録ノート, Lシリーズ] L-11 平成2年9月10日→., 平成2年9月10日→[11月19日]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「11/19」より.], [1990-09-10/1990-11-19.]

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資料番号: L-11
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 平成2年9月10日→[11月19日]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「11/19」より.]; [1990-09-10/1990-11-19.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Lシリーズ.

[記録ノート, Lシリーズ] L-12 平成2年11月〜., 平成2年11月〜[平成3年（1991）7月24日]. [表紙記載, ノート内記載開始日付「1990.11.21」, 終了日付「1991.7.24」より.], [1990-11-21/1991-07-24.]

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資料番号: L-12
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 平成2年11月〜[平成3年（1991）7月24日]. [表紙記載, ノート内記載開始日付「1990.11.21」, 終了日付「1991.7.24」より.]; [1990-11-21/1991-07-24.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Lシリーズ.

[記録ノート, Lシリーズ] 大洗実験 L-10., [1989.9.1]'90.3.7〜[19]90.6.28. [直前ノート日付およびノート内記載開始日付・終了日付より.], [1989-09-01/1990-06-28.]

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資料番号: L-10
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1989.9.1]'90.3.7〜[19]90.6.28. [直前ノート日付およびノート内記載開始日付・終了日付より.]; [1989-09-01/1990-06-28.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Lシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] O-21 平成2年9月10日→平成3年2月6日., 平成2年9月10日→平成3年2月6日. [表紙記載より.], [1990-09-10/1991-02-06.]

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資料番号: O-21
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 平成2年9月10日→平成3年2月6日. [表紙記載より.]; [1990-09-10/1991-02-06.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] O-22 平成3年2月6日→., 平成3年2月6日→[平成3年（1991）7月22日]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「1991.7.22」より.], [1991-02-06/1991-07-22.]

 アイテム
資料番号: O-22
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 平成3年2月6日→[平成3年（1991）7月22日]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「1991.7.22」より.]; [1991-02-06/1991-07-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] 大洗TEMノートO-20 北大工 1989.10.13〜. 59596〜., 1989.10.13〜[1990.6.28]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「90.6.28」より.], [1989-10-13/1990-06-28.]

 アイテム
資料番号: O-20
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 1989.10.13〜[1990.6.28]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「90.6.28」より.]; [1989-10-13/1990-06-28.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997.

 コレクション
資料番号: KURNS MIXED 2018/3
要約 高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として幅広く行われている。本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行いその後に電子顕微鏡観察した結果を記録した写真のネガフィルムで，さまざまな形態の照射欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，現在研究用等原子炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件変更により実施できなくなった実験条件で得られた，希少な照射材料の撮影結果を含む。Material irradiation experiments using high-energy particles are conducted as a means of introducing defects into the material and as a property test of the material used under irradiation. This collection consists of negative films that...
日付: 1985.1.10 〜 1997.7.26. [昭和60年〜平成9年.]; [1985-01-10/1997-07-26.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive

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