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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

2483 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74518. Ni, A008, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74518
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74519. Ni, A008, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74519
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A008. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)」.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74520. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74520
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74521. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74521
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundary.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74522. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74522
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74523. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74523
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74524. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74524
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74525. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74525
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74526. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74526
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74527. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74527
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74528. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74528
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74529. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74529
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74530. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74530
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74531. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74531
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74532. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74532
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74533. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74533
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74534. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74534
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74535. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74535
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)」.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74536. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74536
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74537. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74537
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74538. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74538
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74539. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74539
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74540. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74540
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74541. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74541
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74542. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74542
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74543. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74543
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74544. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74544
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74545. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74545
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74546. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74546
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74547. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74547
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74548. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74548
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74549. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74549
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74550. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74550
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)」.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74551. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74551
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74552. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74552
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74553. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74553
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74554. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74554
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74555. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74555
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74556. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

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資料番号: L-74556
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74557. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

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資料番号: L-74557
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74558. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74558
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74559. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74559
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74560. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74560
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74561. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74561
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74562. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74562
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74563. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74563
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74564. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74564
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74565. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74565
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74566. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74566
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74567. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74567
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下記3枚が組.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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