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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

2483 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80190. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80190
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)②.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80191. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80191
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)③.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80192. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80192
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)④.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80193. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80193
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)⑤.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80194. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80194
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80195. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80195
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80196. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80196
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)これが一番いいはず.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80197. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80197
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80198. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, ED, 55cm., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80198
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80199. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80199
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)C-D反対側 ①.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80200. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80200
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)②.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80201. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 3K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80201
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)3K.

(備考)①＋②.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80202. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80202
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)①＋②ぎりぎり.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80203. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80203
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)③.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80204. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80204
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)④.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80205. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, DF, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80205
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80206. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, ED, 55cm., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80206
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80207. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80207
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B. 日付元記載「1992. 1. 18」.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80208. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80208
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80209. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80209
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80210. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80210
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80211. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80211
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B 反対側.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80212. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80212
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80213. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80213
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80214. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 1K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80214
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)1K.

(備考)C-D.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80215. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 1K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80215
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)1K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80216. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80216
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)C-D 反対側.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80217. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

 アイテム
資料番号: L-80217
範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80218. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80218
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考) A-B Grain a 　α A. 日付元記載「1/19」.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80219. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80219
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a 　α B.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80220. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80220
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a 　α C.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80221. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80221
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a α　C.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80222. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80222
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a α　D.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80223. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80223
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a α　E.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80224. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80224
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a α F.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80225. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80225
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a α A,B.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80226. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80226
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a α C,D.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80227. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80227
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a α F.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80228. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80228
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain a.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80229. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

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資料番号: L-80229
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A-B Grain a C,D.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80230. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

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資料番号: L-80230
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a β　B.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80231. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

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資料番号: L-80231
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a β B.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80232. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

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資料番号: L-80232
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a β　F.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80233. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

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資料番号: L-80233
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a 　β F.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80234. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年]1/19.

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資料番号: L-80234
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain a　 β　.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80235. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

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資料番号: L-80235
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b A.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80236. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80236
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b B.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80237. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80237
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b C.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80238. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80238
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b D.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80239. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

 アイテム
資料番号: L-80239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b E.

日付: [1992年]1/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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