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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

2483 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80290. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80290
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain d　β A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80291. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80291
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain d　β A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80292. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80292
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain d　β B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80293. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80293
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain d　β B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80294. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80294
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain d　β C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80295. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80295
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain d　β C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80296. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80296
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain d　β.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80297. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80297
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain e α A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80298. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80298
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain e α A.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80299. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80299
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain e α B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80300. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80300
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain e α B.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80301. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80301
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain e α　C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80302. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80302
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain e α　C.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80303. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80303
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain e α D.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80304. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80304
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain e α D.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80305. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80305
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain e.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80306. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80306
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain e.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80307. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80307
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)マスクあった付近.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80308. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80308
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain a.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80309. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80309
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain a.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80310. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80310
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain b.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80311. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80311
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain c.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80312. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80312
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain c.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80313. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80313
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain c.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80314. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80314
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain d.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80315. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80315
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain d.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80316. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80316
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain e.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80317. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80317
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain e 傾き少し変える.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80318. Ni, 20MeV セルフイオン, 5K., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80318
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)grain e.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80319. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80319
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)4倍　前半×1000.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80320. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

 アイテム
資料番号: L-80320
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)4倍　後半×1000.

日付: [1992年1月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80321. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80321
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)A 　18MeV Auイオン照射試料予写. 日付元記載「1/29」.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80322. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80322
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)A.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80323. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80323
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)B.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80324. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80324
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)C.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80325. Cu3Au+Cuマスク, 5K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80325
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)D.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80326. Cu3Au+Cuマスク, DF, 100K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80326
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)fringe.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80327. Cu3Au+Cuマスク, ボツ., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80327
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (Dark, Bright, ED)ボツ.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80328. Cu3Au+Cuマスク, DF, 100K., [1992年]1/29.

 アイテム
資料番号: L-80328
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)エッジ落ちた.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80329. Cu3Au+Cuマスク, DF, 100K., [1992年]1/29.

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資料番号: L-80329
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)先端部傾き見るため.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80330. Cu3Au+Cuマスク, ED., [1992年]1/29.

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資料番号: L-80330
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80331. Cu3Au+Cuマスク, DF, 100K., [1992年]1/29.

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資料番号: L-80331
範囲と内容

(試料)Cu3Au＋Cuマスク. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C部マスク fringe A部マスクと全く同じgrain.

日付: [1992年]1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80332. Cu+Cuマスク, 0.74K., [1992年1月29日.]

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資料番号: L-80332
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)0.74K.

(備考)A.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80333. Cu+Cuマスク, 1K., [1992年1月29日.]

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資料番号: L-80333
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)1K.

(備考)A.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80334. Cu+Cuマスク, 0.74K., [1992年1月29日.]

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資料番号: L-80334
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)0.74K.

(備考)Z.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80335. Cu+Cuマスク, 1K., [1992年1月29日.]

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資料番号: L-80335
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)1K.

(備考)Z.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80336. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]

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資料番号: L-80336
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)A.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80337. Cu+Cuマスク, 3K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80337
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)3K.

(備考)A.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80338. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-80338
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)B.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80339. Cu+Cuマスク, 5K., [1992年1月29日.]

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資料番号: L-80339
範囲と内容

(試料)Cu＋Cuマスク. (条件・倍率等)5K.

(備考)Z ゴミ二つ.

日付: [1992年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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